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概览

优势和特点

  • 极低电压噪声:2.8 nV/√Hz
  • 轨到轨输出摆幅
  • 低输入偏置电流:2 nA(最大值)
  • 极低失调电压:75 µV(最大值)
  • 低输入失调漂移:0.6 µV/°C(最大值)
  • 极高增益:120 dB
  • 宽带宽:10 MHz(典型值)
  • 工作电压:±5 V至±18 V

产品详情

AD8675精密运算放大器具有超低失调、漂移和电压噪声,而且输入偏置电流在整个工作温度范围内均非常低。这是一款精密的宽带宽运算放大器,具有轨到轨输出摆幅和极低噪声特性,工作电压范围为±5 V至±15 V。

AD8675像OP184一样提供轨到轨输出,但具有宽带宽且电压噪声更低,而且像工业标准OP07放大器一样精度高、功耗低。与其它低噪声、轨到轨运算放大器不同,AD8675具有非常低的输入偏置电流和低输入电流噪声。

AD8675的典型失调电压仅10 µV,失调漂移为0.2 µV/°C,噪声仅为0.10 µV峰峰值(0.1 Hz至10 Hz),因而特别适合不容许存在较大误差源的应用。对于失调容差更低的应用,专有零点校准能力允许从外部补偿最高3.5 mV(折合到输入)的器件与系统总失调误差。与以前的电路不同,AD8675能够适应这一调整,而且不会对放大器的失调漂移、共模抑制比(CMRR)和电源抑制比(PSRR)产生不利影响。极低噪声、低输入偏置电流和宽带宽特性,对精密仪器仪表、PLL和其它精密滤波器电路、位置和压力传感器、医疗仪器以及应力计放大器都极为有利。许多系统都可以利用AD8675提供的低噪声、直流精度和轨到轨输出摆幅特性,使信噪比和动态范围达到较大。

对于空间受限的设备而言,AD8675的较小封装和低功耗特性则有助于获得最大通道密度或最小的电路板尺寸。

AD8675的额定温度范围为-40°C;至+125۰C扩展工业温度范围,提供8引脚小型MSOP封装以及颇受欢迎且符合RoHS要求的8引脚、窄体SOIC封装。MSOP封装器件仅提供卷带和卷盘形式。

应用

  • 精密仪器
  • PLL滤波器
  • 激光二极管控制环路
  • 应变计放大器
  • 医疗仪器
  • 热电偶放大器
  • 数据手册, Rev. A, 4/07

    产品生命周期 icon-recommended 量产

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    评估套件 (1)

    工具及仿真模型

    LTspice

    LTspice®是一款强大高效的免费仿真软件、原理图采集和波形观测器,为改善模拟电路的仿真提供增强功能和模型。

    启动此部分的现成LTspice演示电路:

    1步:下载并在计算机上安装LTspice

    2步:单击下面的链接,下载演示电路。

    3步:如果在单击以下链接之后LTspice未自动打开,可通过右击该链接并选择“目标另存为”来运行该仿真。将文件保存到计算机之后,请启动LTspice并从“文件”菜单中选择“打开”来打开演示电路。

    LTspice

    LTspice中提供以下器件型号:

    AD8675

    SPICE模型

    设计工具

    模拟滤波器向导

    使用模拟滤波器向导和实际运算放大器在几分钟内设计低通、高通或带通滤波器。设计过程中,可以观察滤波器设计的理想规格与实际电路行为特性。快速评估权衡运算放大器规格 – 包括增益带宽、噪声和电源电流 – 以确定满足您需求的理想滤波器设计。

    模拟光电二级管向导

    使用光电二极管向导设计跨导放大器电路与光电二极管接口。从工具内置器件库中选择一个光电二极管,或输入自定义光电二极管规格。快速考量权衡带宽、峰值(Q)和ENOB/SNR。修改电路参数,并立即查看图中的脉冲响应、频率响应和噪声增益结果。

    参考电路 (6)

    设计资源

    ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。

    Part Number Material Declaration Reliability Data Pin/Package Drawing CAD Symbols, Footprints & 3D Models
    AD8675ARMZ 材料声明 质量和可靠性 8-Lead MSOP
    AD8675ARMZ-REEL 材料声明 质量和可靠性 8-Lead MSOP
    AD8675ARZ 材料声明 质量和可靠性 8-Lead SOIC
    AD8675ARZ-REEL 材料声明 质量和可靠性 8-Lead SOIC
    AD8675ARZ-REEL7 材料声明 质量和可靠性 8-Lead SOIC
    Wafer Fabrication Data

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