お探しの製品ではありませんか
質問する
以下に質問を入力すると、アナログ・デバイセズのナレッジ・ベースからよくある質問の答えを見ることができます。
その他のサポート
よく聞かれる質問(FAQ)
特長
- 小型パッケージ:10ピンMSOP
- ゲイン設定可能:1, 2, 4, 8
- 広い電源電圧範囲:±5~±15V
- 優れたDC性能
高CMRR:最小98dB、G=8
低ゲイン・ドリフト:最大10ppm/℃
低オフセット・ドリフト:最大1.8µV/℃、G=8 - 高速セトリング時間:0.001%までで最大785ns
- 高スルーレート:最小20V/µs
- 低歪み:1kHzでTHD=-110dB、振幅10V
- 周波数全域で高CMRR:50kHzまで最小80dB
- 低消費電力:4mA
AD8251は、GΩ入力インピーダンス、低出力ノイズ、低歪みの特性を持つデジタル・プログラマブル・ゲイン計装アンプ(PGIA)であるため、センサとのインターフェースや高速サンプリング・レートのA/Dコンバータ(ADC)の駆動に最適です。このデバイスは、10MHzの広帯域幅、-110dBの低THD、785ns(max)の高速セトリング時間(0.001%)を持っています。オフセット・ドリフトおよびゲイン・ドリフトは、G=8でそれぞれ1.8μV/℃および10ppm/℃です。本製品は広い入力同相電圧範囲だけではなく、DCから50kHzまで80dB(G=1)という優れたCMRR(同相ノイズ除去)性能も持っています。高精度のDC性能と高速機能の組み合わせにより、データ・アクイジション向けの最適な選択肢になっています。また、このモノリシック・ソリューションは、設計および製造を簡化し、内部抵抗と内部アンプとの高い整合性を維持することにより計測性能を向上させます。
AD8251のユーザ・インターフェースはパラレル・ポートから構成されており、ユーザは2種類の方法でゲインを設定することができます(図1の機能ブロック図を参照)。バスを介して送信される2ビット・ワードは、WR入力を使ってラッチできます。また、トランスペアレント・ゲイン・モードを使用して、ゲイン・ポートのロジック・レベルの状態でゲインを決めることもできます。
AD8251は10ピンMSOPパッケージを採用しており、-40~+85℃の温度範囲で仕様が規定されています。本製品は、サイズや集積度が重視されるアプリケーションの優れたソリューションとなります。
アプリケーション
- データ・アクイジション
- バイオメディカル分析
- テストおよび計測
質問する
以下に質問を入力すると、アナログ・デバイセズのナレッジ・ベースからよくある質問の答えを見ることができます。
その他のサポート
よく聞かれる質問(FAQ)
{{modalTitle}}
{{modalDescription}}
{{dropdownTitle}}
- {{defaultSelectedText}} {{#each projectNames}}
- {{name}} {{/each}} {{#if newProjectText}}
- {{newProjectText}} {{/if}}
{{newProjectTitle}}
{{projectNameErrorText}}
AD8251
資料
Filters
1つが該当
データシート
2
技術記事
2
doc
75 kB
URL
ユーザ・ガイド
1
アプリケーション・ノート
3
HTML
HTML
HTML
よく聞かれる質問
1
HTML
利用上の注意
アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。
本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。
なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
ドキュメント
データシート 2
ユーザ・ガイド 1
アプリケーション・ノート 1
技術記事 2
よく聞かれる質問 1
サードパーティ・ソリューション 3
テクニカル・ブック 1
リファレンス設計 3
Analog Dialogue 4
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
---|---|---|---|
AD8251ARMZ | 10-Lead MSOP |
|
|
AD8251ARMZ-R7 | 10-Lead MSOP |
|
|
AD8251ARMZ-RL | 10-Lead MSOP |
|
- AD8251ARMZ
- ピン/パッケージ図
- 10-Lead MSOP
- 資料
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
- Ultra Librarian
- SamacSys
- AD8251ARMZ-R7
- ピン/パッケージ図
- 10-Lead MSOP
- 資料
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
- Ultra Librarian
- SamacSys
- AD8251ARMZ-RL
- ピン/パッケージ図
- 10-Lead MSOP
- 資料
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
- Ultra Librarian
- SamacSys
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
5 15, 2012
- 10_0006
Halogen Free Material Change for mini SOIC Products
AD8251ARMZ
製造中
AD8251ARMZ-R7
製造中
AD8251ARMZ-RL
製造中
11 16, 2009
- 06_0157
Qualification of the 8" H6 Thin Film BiPolar Wafer Fab Process at Analog Devices, Limerick, Ireland
AD8251ARMZ
製造中
AD8251ARMZ-R7
製造中
9 11, 2009
- 09_0146
Die revision of the AD8250, AD8251 and the AD8253 to include Polyimide coating
AD8251ARMZ
製造中
AD8251ARMZ-R7
製造中
AD8251ARMZ-RL
製造中
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
5 15, 2012
- 10_0006
Halogen Free Material Change for mini SOIC Products
AD8251ARMZ
製造中
AD8251ARMZ-R7
製造中
AD8251ARMZ-RL
製造中
11 16, 2009
- 06_0157
Qualification of the 8" H6 Thin Film BiPolar Wafer Fab Process at Analog Devices, Limerick, Ireland
9 11, 2009
- 09_0146
Die revision of the AD8250, AD8251 and the AD8253 to include Polyimide coating
AD8251ARMZ
製造中
AD8251ARMZ-R7
製造中
AD8251ARMZ-RL
製造中
ソフトウェアおよび製品のエコシステム
評価用キット 2
EVAL-AD8251
AD8251 Evaluation Board
製品の詳細
Many configuration options are available on the AD8251- EVALZ evaluation board that allow additional input filtering and output filtering if there is a noisy environment. The logic control is covered with an on-board 5.0 V regulator and a dual in-line package (DIP) switch. However, these logic signals can be overridden and clipped on by way of the on-board test points if the DIP switch has each position set to open.
EVAL-ADMX2001
高性能・高精度のインピーダンス・アナライザ測定モジュール
製品の詳細
ADMX2001はインピーダンス測定システムの開発を容易にする測定モジュールで、既存のテスト・プラットフォームの能力を強化するために使用することもできます。ADMX2001は高性能のミックスド・シグナル・アルゴリズムと処理アルゴリズムを使用して、わずか0.1fFの容量変化と最大20MΩの抵抗値を測定することができます。半導体デバイス、電子部品、およびセンサーのテストでは、このような測定が必要になることが少なくありません。更にADMX2001では、抵抗、容量、およびインダクタンスの並列および直列の組み合わせを含めて、完全に校正済みの複素インピーダンスやアドミッタンスの測定結果を、組込みの測定アルゴリズムにより様々なフォーマットで提供することができます。
アプリケーション
- 自動試験装置
- 半導体の特性評価
- ウェハ受け入れテスト
- インピーダンス分光分析
- インピーダンス回路の分析
- バッテリ・テスト
資料
ツールおよびシミュレーション 3
計装アンプ用ダイヤモンド・プロット・ツール
SPICEモデル 1
シグナル・チェーン・デザイナー – BETA版
リファレンス・デザイン 3
CN0393
バンク絶縁型 2 チャンネル 16 ビット 500 kSPS同時サンプリングを特長とする集積化されたデータ・アクイジション・サブシステム ※Rev.0を翻訳したものです。最新版は英語資料ご覧ください。
CN0385
工業用シングル・エンドおよび差動信号対応 PGIA 付き 絶縁型マルチチャンネル・データ・アクイジション・システム ※Rev.0を翻訳したものです。最新版は英語資料をご覧ください。
リファレンス・デザイン3
CN0393
バンク絶縁型 2 チャンネル 16 ビット 500 kSPS同時サンプリングを特長とする集積化されたデータ・アクイジション・サブシステム ※Rev.0を翻訳したものです。最新版は英語資料ご覧ください。
CN0385
工業用シングル・エンドおよび差動信号対応 PGIA 付き 絶縁型マルチチャンネル・データ・アクイジション・システム ※Rev.0を翻訳したものです。最新版は英語資料をご覧ください。
CN0345
Low Power, Multichannel Data Acquisition System with PGIA for Single-Ended and Differential Industrial-Level Signals