電子テストおよび計測

モノのインターネット(IoT)の形成を支援するワイヤレス通信技術、自動運転車、蓄電、ヒューマン・マシン・インターフェース、およびクラウド接続型センサーが進化していることから、さらに高速で精度の高い測定能力をより小型の装置で実現する需要が高まっています。アナログ・デバイセズの半導体および高度なパッケージング技術は、これらの用途での電気的パラメータの測定に向けた、次世代の電子テストおよび測定ソリューションの基盤となるもので、未来の電子システムの研究、開発、および製造を可能にしています。


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