オシロスコープとデジタイザソリューション
デジタル・オシロスコープおよびデジタイザは、トラブルシューティング、試験、開発に広く使用される計測器です。これらを使用して、時間領域信号特性の分析が行われます。高インピーダンス、FET入力アンプ、可変ゲイン・アンプ、ADCドライバ、ADC、クロック分配、トリガ回路向け高速コンパレータ、電源ツリー・ソリューション、および組み込みプロセッサを揃えた、アナログ・デバイセズのポートフォリオ。最新機器にはかつてないほど多くの機能と分析オプションを搭載しており、最先端のデジタル・オシロスコープの設計を可能にしています。
価値と利点
- 幅広い設計に対応：ADC、アンプ、コンパレータにより、ポータブルから据え置き型までのオシロスコープのソリューションが可能になります。
- 高帯域幅を提供：高サンプリングレートADCが厳しい時間領域要件を満たします。
- 省電力で省スペース：電源µModule内蔵で効率と基板面積を最適化します。
- 高精度タイミングの実現：クロック分配により高精度な信号キャプチャを確実なものとします。
シグナル・チェーン
評価用ボード
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Key Resources
Technical Books
設計ツール
Trainings and Tutorials
ファイルおよびダウンロード
アプリケーション・ノート
AN-756: サンプル化システムに及ぼすクロック位相ノイズとジッタの影響
359 kB
製品選択ガイド
高精度製品／シグナル・チェーン・ソリューション：セレクションガイド2019
4.94 M
回路ノート
Selected Reference Designs: Test and Measurement Solutions
5.88 M
チュートリアル
Fundamentals of Phase Locked Loops (PLLs)
407 kB
MT-101: Decoupling Techniques
954 kB
MT-003: Understand SINAD, ENOB, SNR, THD, THD + N, and SFDR so You Don't Get Lost in the Noise Floor
92 kB
MT-076: Differential Driver Analysis
95 kB
MT-060: Choosing Between Voltage Feedback and Current Feedback Op Amps
62 kB
MT-008: Converting Oscillator Phase Noise to Time Jitter
123 kB
MT-075: 高速 ADC 向け差動ドライバの基礎と応用
0
MT-074: 高精度 A/D コンバータ用の差動ドライバ
358 kB
{{modalTitle}}
{{modalDescription}}
{{dropdownTitle}}
- {{defaultSelectedText}} {{#each projectNames}}
- {{name}} {{/each}} {{#if newProjectText}}
-
{{newProjectText}}
{{/if}}
{{newProjectTitle}}
{{projectNameErrorText}}