概览
优势和特点
- 小型封装：10引脚MSOP
- 可编程增益：1、2、4、8
- 增益设置：数字式或引脚可编程
- 宽电源电压范围：±5 V至±15 V
- 出色的直流性能
高共模抑制比(CMRR)：98 dB(最小值，G = 8)
低增益漂移：10 ppm/°C(最大值)
低失调漂移：1.8 µV/°C(最大值，G = 8) - 0.001%快速建立时间：785 ns(最大值)
- 高压摆率：20 V/µs(最小值)
- 低失真：-110 dB THD(1 kHz、10 V摆幅)
- 相对于频率的高共模抑制比(CMRR)：
80 dB(50 kHz，最小值) - 低噪声：18 nV/√Hz(最大值、G = 10)
- 低功耗：4 mA
产品详情
AD8251是一款具有数字式可编程增益的仪表放大器，拥有GΩ级输入阻抗、低输出噪声和低失真等特性，因此适合用来与传感器接口及驱动高采样速率模数转换器(ADC)。它拥有10 MHz带宽、−110 dB的低总谐波失真(THD)，以及达到0.001%精度时785 ns的快速建立时间(最大值)。保证的失调漂移和增益漂移分别为1.8 µV/°C和10 ppm/°C(G = 8)。除了输入共模电压范围很宽之外，该器件还拥有80 dB的高共模抑制能力(G = 1，直流至50 kHz)。精密直流性能与高速能力的结合则使AD8251成为数据采集应用的绝佳选择。此外，这款单芯片解决方案简化了设计与制造，并可通过内部电阻与放大器的严格匹配来提高仪器仪表的性能。AD8251用户接口包含一个并行端口，用户可以采用以下两种不同的方式设置增益(功能框图请参见数据手册中的图1)。一种方式是用WR输入锁存通过总线发送的2比特字。另一种方式是用透明增益模式，在这一模式下，由增益端口处的逻辑电平状态决定增益。
AD8251采用10引脚MSOP封装，额定温度范围为−40°C至+85°C，特别适合对尺寸和封装密度有严格要求的应用。
应用
数据手册, Rev. 0, 5/07
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计，但也可能有更新的替代产品。
评估套件 (2)
参考资料
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AN-1401: 仪表放大器共模范围：钻石图 (Rev. 0)10/14/2016PDF656 K
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CN0393: 库隔离、2 通道、16 位、500 kSPS 同步采样信号链，集成数据采集系统 (Rev. A)5/12/2017PDF452 K
-
CN-0385:集成 PGIA、用于单端和差分工业级信号的隔离式多通道数据采集系统 (Rev. 0)10/10/2016PDF525 K
-
CN0345: 集成PGIA、用于工业级信号的低功耗、多通道数据采集系统 (Rev. 0)4/4/2016PDF487 K
-
基于 FPGA 的系统提高电机控制性能3/1/2015 模拟对话
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完整传感器数据采集解决方案简化工业数据采集系统设计4/1/2013 模拟对话
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用于数据采集的超高性能差分输出可编程增益仪表放大器10/1/2011 模拟对话
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Auto-Zero Amplifiers3/1/2010DOC75 kB
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High-performance Adder Uses Instrumentation Amplifiers9/3/2009
-
8 信道数据采集系统使用单个 ADC 驱动器12/1/2008 模拟对话
工具及仿真模型
仪表放大器钻石图工具
钻石图工具是一个网络应用程序，可生成特定配置的输出电压范围与输入共模电压关系图，也被称为钻石图，适用于ADI仪表放大器。 根据电源电压、增益和输入信号范围等用户输入参数，该工具可检测设计饱和情况，推荐合适的仪表放大器使输入信号在规格范围内并且配置的电路是有效的。 该工具能避免设计饱和，找到适合设计的仪表放大器，节省设计时间。
SPICE模型
CIR
AD8251 SPICE Macro Model
12.15 K
参考电路 (3)
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
| Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
|---|---|---|---|---|
| AD8251ARMZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 10-Lead MSOP | |
| AD8251ARMZ-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 10-Lead MSOP | |
| AD8251ARMZ-RL | 材料声明 | 质量和可靠性 | 10-Lead MSOP | |
| Wafer Fabrication Data |
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