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ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435: Ultralow Noise XFET Voltage References with Current Sink and Source Capability Data Sheet (Rev. N)5/12/2014PDF1 M
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ADR431-EP/ADR434-EP/ADR435-EP: Enhanced Product Data Sheet (Rev. B)11/29/2012PDF178 K
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ADR431/ADR434/ADR435-DSCC: Military Data Sheet (Rev. A)11/29/2012
概览
优势和特点
- 低噪声(0.1 Hz至10.0 Hz): 3.5 µV p-p(2.5 V输出)
- 无需外部电容
- 低温度系数
A级: 10 ppm/℃(最大值)
B级: 3 ppm/℃(最大值) - 负载调整率: 15 ppm/mA
- 线性调整率: 20 ppm/V
- 欲了解更多特性,请参考数据手册
- 下载 ADR434-EP数据手册 (pdf)
- 军用温度范围(−55 ℃至+125 ℃)
- 受控制造基线
- 封装/测试厂
- 制造厂
- 增强型产品变更通知
- 认证数据可应要求提供
产品详情
ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435是XFET®系列基准电压源,具有低噪声、高精度和低温度漂移性能。利用ADI公司的温度漂移曲率校正技术和外加离子注入场效应管(XFET)技术,可以使ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435电压随温度变化的非线性度降至最小。
与嵌入式齐纳基准电压源相比,XFET基准电压源能以更低的电流(800 μA)和更小的电源电压裕量(2 V)工作。嵌入式齐纳基准电压源需要5 V以上的裕量才能工作。ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435 XFET基准电压源是一个适合5 V系统的低噪声解决方案。
ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435系列的源电流输出最高达30 mA,最大吸电流能力为-20 mA。它还具有调整引脚,可以在±0.5%范围内调整输出电压,而性能则不受影响。
ADR430/ADR431/ADR433/ADR434/ADR435提供8引脚MSOP和8引脚窄体SOIC两种封装。所有型号产品的额定温度范围均为−40°C至+125°C扩展工业温度范围。
应用
- 精密数据采集系统
- 高分辨率数据转换器
- 医疗仪器
- 工业过程控制系统
- 光学控制电路
- 精密仪器
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。
参考资料
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UG-444:评估AD5750工业电流/电压输出驱动器9/13/2012PDF0
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ADI公司医疗X射线成像解决方案12/26/2016
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CN0345: 集成PGIA、用于工业级信号的低功耗、多通道数据采集系统 (Rev. 0)4/4/2016PDF487 K
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CN0201:完整的5 V单电源8通道多路复用数据采集系统,集成用于工业级信号的PGIA11/6/2012PDF263 kB
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集成低功耗输入驱动器和基准电压源的16位6 MSPS SAR ADC系统,针对多路复用应用优化11/5/2012PDF540 kB
参考电路 (3)
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
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ADR434ARMZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
ADR434ARMZ-REEL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
ADR434ARZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
ADR434ARZ-REEL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
ADR434BRZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
ADR434BRZ-REEL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
ADR434TRZ-EP | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
ADR434TRZ-EP-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
Wafer Fabrication Data |
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