低遅延の試験および計測キット - ハードウェア・イン・ザ・ループ（HiL）
2023年07月06日
この開発キットは、より低遅延の高精度デジタル計測および信号生成システムを実現するために、アナログ・デバイセズ最新の高精度リアルタイム計測技術を使用しています。HiLシステムが、より実際の現象に近い状態をエミュレートできれば、それだけ被試験デバイスを正確に評価することができます。
低遅延の試験および計測キット - ハードウェア・イン・ザ・ループ（HiL）
2023年07月06日
この開発キットは、より低遅延の高精度デジタル計測および信号生成システムを実現するために、アナログ・デバイセズ最新の高精度リアルタイム計測技術を使用しています。HiLシステムが、より実際の現象に近い状態をエミュレートできれば、それだけ被試験デバイスを正確に評価することができます。
{{modalTitle}}
{{modalDescription}}
{{dropdownTitle}}
- {{defaultSelectedText}} {{#each projectNames}}
- {{name}} {{/each}} {{#if newProjectText}}
-
{{newProjectText}}
{{/if}}
{{newProjectTitle}}
{{projectNameErrorText}}