自動試験装置
高性能かつコスト効率に優れたソリューションが求められるIC量産テスト・アプリケーション向けに、アナログ・デバイセズは最先端の統合ピン・エレクトロニクス（PE）、デバイス電源（DPS）、およびパラメトリック測定ユニット（PMU）を提供しています。これらのATEアプリケーション専用製品は、MEMSスイッチから高性能コンバータ、RFトランシーバに至る幅広い標準製品のポートフォリオとともに、デジタルSoC試験、メモリ／ウエハ試験、RF／ミリ波試験、高電圧デバイス試験、システム・レベル試験など、あらゆる半導体試験分野において独自のソリューションを提供します。
DPS、PMU、およびピン・ドライバの製品を、アナログ・デバイセズのインタラクティブなパラメトリック検索テーブルを使用して比較してください。
ATEのリーダー：最高水準のRFおよび電源を備えた高精度技術
アナログ・デバイセズは、高速コンバータ、幅広いRF範囲、およびPower by Linear™スイートを統合した高精度技術ソリューションにより、設計の可能性を広げます。この包括的なアプローチにより、迅速なプロトタイピング、システム・レベルの革新、そして比類のない製品性能を実現します。
ファイルおよびダウンロード
ブック & eBook
信頼できる電源：バッテリ駆動に適した高効率のソリューションを実現する
10.38 M
優れた効率、高いEMI性能をもたらすSilent Switcherレギュレータ
10.59 M
ソリューション・カタログ
Balanced Power Solutions Brochure
461.79 K
Industrial Battery Chargers Overview
2.09 M
Silent Switcher Technology
1.74 M
ADuM4146 Isolated SiC Gate Brochure
1.31 M
ユーザ・ガイド
EVAL-ADRF5717: Evaluation of the ADRF5717 Silicon Digital Attenuator, 2-Bit, 1 MHz to 30 GHz
1.1 M
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