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ADCLK905/ADCLK907/ADCLK925: 超高速SiGe ECLクロック/データ・バッファ (Rev. 0)1/1/2000PDF1000 kB
製品概要
機能と利点
- 95psの伝播遅延
- 7.5GHzのトグル・レート
- 60ps(typ)の出力立上がり / 立下がり
- 60fsのランダム・ジッタ(RJ)
- 両入力ピンのオンチップ終端
- 拡張工業用温度範囲:-40~+125℃
- 2.5~3.3V電源(VCC-VEE)
製品概要
ADCLK905(1入力1出力)、ADCLK907(2個の1入力1出力)、ADCLK925(1入力2出力)は、アナログ・デバイセズ独自のXFCB3シリコン・ゲルマニウム(SiGe)バイポーラ・プロセスで製造れた超高速のクロック / データ・バッファです。
ADCLK905 / ADCLK907 / ADCLK925 は、フルスイングECL(エミッタ結合ロジック)出力ドライバを備えています。PECL(正のECL)動作では、VCCを正側電源、VEEをグラウンドにバイアスします。NECL(負のECL)動作は、VCCをグラウンド、VEEを負側電源にバイアスします。
バッファは、伝播遅延が95ps、トグル・レートが7.5GHz、データレートが10Gbps、ランダム・ジッタ(RJ)が60fsです。
入力には、センタータップ型の100Ω終端抵抗を備えています。また、AC結合入力をバイアスするためにVREFピンを用意しています。
ECL出力段はVCC-2Vに終端した50Ωに800mVを直接駆動する設計で、全差動出力振幅は1.6Vになります。
ADCLK905 / ADCLK907 / ADCLK925 は、16ピンLFCSPパッケージを採用しています。
アプリケーション
- クロック / データ信号の再生とレベル・シフト
- 自動試験装置(ATE)
- 高速計測機器
- 高速ライン・レシーバ
- スレッショールド検出
- コンバータのクロッキング
製品ライフサイクル
新規設計にお薦めします
発売済みの製品です。データシートには、最終的な仕様と動作条件がすべて記載されています。新規の設計には、これらの製品の使用を推奨します。
評価キット (1)
参考資料
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AN-769: Generating Multiple Clock Outputs from the AD9540 (Rev. 0)2/14/2015PDF0
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AN-823: Direct Digital Synthesizers in Clocking Applications Time (Rev. 0)2/14/2015PDF115 kB
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AN-939: 高い周波数のRF出力信号が得られるAD9912のスーパーナイキスト動作 (Rev. 0)11/16/2010PDF351 kB
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AN-756: サンプル化システムに及ぼすクロック位相ノイズとジッタの影響 (Rev. 0)4/18/2008PDF359 kB
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AN-927: スプリアスとDDS / DACやその他の発生源(スイッチング電源など)との関係の判定 (Rev. 0)7/12/2007PDF327 kB
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AN-837: DAC再生フィルタ性能とDDS採用時のクロック・ジッタ性能の関係 (Rev. 0)12/28/2006PDF528 kB
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AN-873: ADF4xxx PLLシンセサイザ・ファミリーでのロック検出 (Rev. 0)12/6/2006PDF349 kB
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AN-501: アパーチャ不確定性とADCシステム性能 (Rev. A)11/29/2004PDF212 kB
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AN-741: 位相ノイズの知られざる特性 (Rev. 0)11/29/2004PDF1076 kB
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UG-582: Evaluating the EVAL-CN0290-SDPZ9/4/2013PDF306 kB
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UG-006: Setting Up the Evaluation Board for the ADCLK905/ADCLK907/ADCLK9259/11/2009PDF335 kB
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MT-008: Converting Oscillator Phase Noise to Time Jitter2/14/2015PDF123 kB
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RF/マイクロ波/ミリ波IC セレクション・ガイド11/2/2022PDF7 M
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CN-0290: 高性能フェーズ・ロック・ループの低周波数の範囲を拡大する9/24/2013PDF311 kB
ツールおよびシミュレーション
設計ツール
ADIsimCLKはアナログ・デバイセズの超低ジッタのクロック分配器とクロック生成用製品向けに開発された設計ツールです。ADIsimCLKを使用すれば、ワイヤレス・インフラストラクチャ、計測器、ネットワーキング、ブロードバンド、ATE(自動試験装置)あるいはクロック性能が予測可能であることが求められるあらゆる分野のアプリケーションで、設計を迅速に開発、評価、最適化できます。
リファレンス・デザイン (1)
設計リソース
アナログ・デバイセズでは、最高レベルの品質と信頼性を備えた製品を提供することに最大の力を常に注いでいます。これを実現するため、製品およびプロセスの設計のあらゆる観点で品質と信頼性のチェックを行っています。そして、それは、製造工程においても同様です。アナログ・デバイセズは常に、出荷製品の「ゼロ・ディフェクト」を目指しています。詳細についてはアナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム/認定証をご覧ください。
製品番号 | 材料宣誓書(MD) | 信頼性データ | ピン/パッケージ図 | CADシンボル、フットプリント & 3Dモデル |
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ADCLK925BCPZ-R2 | 材料宣誓書(MD) | 信頼性データ | 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) | |
ADCLK925BCPZ-R7 | 材料宣誓書(MD) | 信頼性データ | 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) | |
ADCLK925BCPZ-WP | 材料宣誓書(MD) | 信頼性データ | 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) | |
ウェハ・ファブリケーション・データ |
PCN-PDN情報
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サポート & ディスカッション
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価格は1個当たりの米ドルで、米国内における販売価格(FOB)で表示されておりますので、予算のためにのみご使用いただけます。 また、その価格は変更されることがあります。米国以外のお客様への価格は、輸送費、各国の税金、手数料、為替レートにより決定されます。価格・納期等の詳細情報については、弊社正規販売代理店または担当営業にお問い合わせください。なお、 評価用ボードおよび評価用キットの表示価格は1個構成としての価格です。