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概览

优势和特点

  • 模拟I/O
    • 多通道、12位、1 MSPS ADC
      多达16个ADC通道
    • 全差分模式和单端模式
    • 模拟输入范围:0 V至VREF
    • 12位电压输出DAC
      最多提供4路DAC输出 li>
    • 片内基准电压
    • 片内温度传感器(±3°C)
    • 电压比较器
  • 微控制器
    • ARM7TDMI内核、16位/32位RISC架构
    • JTAG端口支持代码下载和调试
  • 时钟选项
    • 片上调整振荡器(±3%)
    • 外部时钟晶体
    • 可达44 MHz的外部时钟源
    • 具有可编程分频器的41.78 MHz锁相环
  • 欲了解更多特性,请参考数据手册


产品详情

ADuC7019/ADuC7020/ADuC7021/ADuC7022/ADuC7024/ADuC7025/ ADuC7026/ADuC7027/ADuC7028/ADuC7029均为完全集成的1 MSPS、12位数据采集系统,在单芯片内集成高性能多通道ADC、16位/32位MCU和Flash®/EE存储器。

ADC具有多达12路单端输入。 另外还有4个ADC输入通道,与4个DAC输出引脚复用。 4路DAC输出仅在特定型号上提供(ADuC7020、ADuC7026、ADuC7028和ADuC7029)。 然而,在无DAC输出的情况下,这些引脚仍然可以用作ADC的输入引脚,这样ADC的输入最多可以达到16通道。 ADC可以在单端或差分输入模式下工作。 ADC输入电压范围为0 V至VREF。 低漂移带隙基准电压源、温度传感器和电压比较器完善了ADC的外设设置。

根据器件型号不同,片内最多可内置4个缓冲电压输出DAC。 通过编程可以将DAC输出范围设置为三种电压范围之一。

这些器件通过一个片内振荡器和锁相环(PLL)产生41.78MHz的内部高频时钟信号(UCLK)。 该时钟信号通过一个可编程时钟分频器进行中继,在其中产生MCU内核时钟工作频率。 微控制器内核为ARM7TDMI®,它是一个16位/32位RISC机器,峰值性能最高可达41 MIPS。 片内集成有8 KB SRAM和62 KB非易失性Flash/EE存储器。 ARM7TDMI内核将所有存储器和寄存器视为一个线性阵列。

片内出厂固件支持通过UART或I2C串行接口端口进行串行在线下载,并且支持通过JTAG接口进行非介入仿真。 这些特性都集成在支持此MicroConverter®系列的低成本QuickStart开发系统中。

这些器件的工作电压范围为2.7 V至3.6 V,额定温度范围为−40°C至+125°C工业温度范围。工作频率为41.78 MHz时,其典型功耗为120 mW。 ADuC7019/ADuC7020/ADuC7021/ ADuC7022/ADuC7024/ADuC7025/ADuC7026/ADuC7027/ADuC7028/ ADuC7029有多种存储器类型和封装形式(详见订购指南)。

应用

  • 工业控制和自动化系统
  • 智能传感器、精密仪器
  • 基站系统、光纤网络

产品生命周期 icon-recommended 量产

该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。

评估套件 (1)

参考资料

  • 查看全部 (13)
  • 数据手册 (1)
  • 应用笔记 (8)
  • 技术文章 (4)
  • 软件代码及系统需求

    参考代码

    ADuC7019/ADuC702x Code Examples

    参考电路 (1)

    设计资源

    ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。

    Part Number Material Declaration Reliability Data Pin/Package Drawing CAD Symbols, Footprints & 3D Models
    ADUC7025BCPZ62 材料声明 质量和可靠性 64-Lead LFCSP (9mm x 9mm w/ EP)
    ADUC7025BCPZ62-RL 材料声明 质量和可靠性 64-Lead LFCSP (9mm x 9mm w/ EP)
    ADUC7025BSTZ62 材料声明 质量和可靠性 64-Lead LQFP (10mm x 10mm)
    ADUC7025BSTZ62-RL 材料声明 质量和可靠性 64-Lead LQFP (10mm x 10mm)
    Wafer Fabrication Data

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