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特性
- 10 MHz 至 500 MHz 时具有 12.5 dB 的小信号增益(典型值)
- 10 MHz 至 8000 MHz 的宽工作频率范围
- 10 MHz 至 500 MHz 时 OIP3 为 34 dBm(典型值)
- 内部放大器状态,5000 MHz 至 8000 MHz 时输出 P1dB 为 17 dBm(典型值)
- 10 MHz 至 500 MHz 时噪声指数为 2.8 dB(典型值)
- 10 MHz 至 500 MHz 时内部旁路开关状态具有 2 dB 的低插入损耗(典型值)
- −40°C 至 +85°C 的宽工作温度范围
- 符合 RoHS 指令的 6 mm × 6 mm 28 端子 LGA
- ESD 额定值为 ±750 V(1B 级)
ADL8111 是一款具有非反射旁路开关的低噪声放大器 (LNA),可在 10 MHz 至 8000 MHz 的宽频率范围内工作。ADL8111 同时提供 2.8 dB 的低噪声指数和 34 dBm 的高输出三阶交调点 (OIP3),可实现高动态范围。ADL8111 提供 12.5 dB 的增益,该增益可在不同频率、温度、电源下以及在不同套件之间保持稳定。
由于集成了一个放大器和两个单刀四掷 (SP4T) 非反射开关,因此可实现多个增益和线性度值。开关的添加还可实现高输入交调点性能,并可在高信号电平应用中避免失真。
ADL8111 具有 ±750 V 的高静电放电 (ESD) 额定值(1B 级),并可在 −40°C 至 +85°C 的宽温度范围内正常工作。ADL8111 采用 6 mm × 6 mm 28 端子岸面栅格阵列 (LGA) 封装。
应用
- 军事
- 测试仪器仪表
- 通信
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ADL8111
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产品技术资料帮助
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参考资料
产品选型指南 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
---|---|---|---|
ADL8111ACCZN | 28 ld LGA (6mm x 6mm w/4 EP) |
|
|
ADL8111ACCZN-R7 | 28 ld LGA (6mm x 6mm w/4 EP) |
|
- ADL8111ACCZN
- 引脚/封装图-中文版
- 28 ld LGA (6mm x 6mm w/4 EP)
- 文档
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CAD 符号,脚注和 3D模型
- Ultra Librarian
- SamacSys
- ADL8111ACCZN-R7
- 引脚/封装图-中文版
- 28 ld LGA (6mm x 6mm w/4 EP)
- 文档
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CAD 符号,脚注和 3D模型
- Ultra Librarian
- SamacSys
根据型号筛选
产品型号
产品生命周期
PCN
9月 28, 2023
- 23_0146
Process Revision for Select Low Noise Amplifier Products
ADL8111ACCZN
量产
ADL8111ACCZN-R7
量产
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产品型号
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PCN
9月 28, 2023
- 23_0146
Process Revision for Select Low Noise Amplifier Products
ADL8111ACCZN
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ADL8111ACCZN-R7
量产
软件和型号相关生态系统
评估套件 2
EVAL-ADL8111
ADL8111 评估板
产品详情
资料
X波段相控阵平台
可扩展32元件混合波束成形相控阵雷达开发平台
产品详情
X波段开发平台包含一个MxFE®软件定义的直接RF采样收发器、X波段转C波段上下变频器和X/Ku波段模拟相控阵原型制作平台。目标应用包括相控阵雷达、电子战和地面卫星通信,尤其是X波段32发射/32接收通道混合波束成形相控阵雷达。
X波段开发平台可提供完整的系统解决方案。它可以用作测试平台,用于演示混合波束成形相控阵雷达以及实现系统级校准、波束成形算法和其他信号处理算法。该系统旨在配合Xilinx® ZCU102评估板使用,具有Zynq® UltraScale+™ MPSoC FPGA并提供参考软件、HDL代码和MATLAB系统级接口软件。
利用该系统可实现以下应用的快速研发上市:
- ADEF(相控阵、雷达、电子战、卫星通信)
- 混合波束成型
- 电子测试与测量