概览
优势和特点
- 具有线性度的肖特基二极管检波器
- 宽带50 Ω输入阻抗
- 具有最小斜率变化的精确响应范围:0.5 GHz至43.5 GHz
- 输入范围:−30 dBm至+15 dBm,参考50 Ω
- 出色的温度稳定性
- 2.1 V/VPEAK(输出电压根据输入峰值电压)斜率(10 GHz)
- 快速包络带宽: 40 MHz
- 快速输出上升时间: 4 ns
- 低功耗: 1.6 mA (5.0 V)
- 2 mm x 2 mm、6引脚LFCSP封装
产品详情
ADL6010是一款多功能微波频谱宽带包络检波器, 以单个易于使用的6引脚封装提供优良的精度和极低的功耗(8 mW)。 该器件输出的基带电压与射频(RF)输入信号的瞬时幅度成正比。 它的RF输入具有非常小的斜率变化,以便包络从0.5 GHz到43.5 GHz的输出传递函数
检波器单元使用专利的八肖特基二极管阵列,后接新颖的线性化电路,可创建相对于输入电压幅度,总比例因子(或传递增益)标称值为?2.2的线性电压表
虽然ADL6010本质上并不是一款功率响应器件,但以这种方式指定输入依然是很方便的。 因此,相对于50 Ω源输入阻抗,允许的输入功率范围为−30 dBm至+15 dBm。 对应的输入电压幅度为11.2 mV至1.8 V,产生范围从25 mV左右到4 V以上共模(COMM)的准直流输出。
平衡检波器拓扑的一个不为人注意的细节是,它不存在输入端由于非线性源负载而产生偶数阶失真。 这在利用低比例耦合器提取信号样本的应用中是一个重要优势,并且相比传统二极管检波器而言,它的性能大为提升。
RF输入幅度波动的功率等效值可通过加入RMS-to-DC转换器IC来提取。 此外,基带输出可应用于一个速度适中的模数转换器(ADC),有效值(以及其他信号衡量指标,比如峰均比)在数字域中完成计算。
输出响应精度对4.75 V至5.25 V范围的电源电压变化不敏感。超低功耗有利于长期稳定性。
ADL6010A额定工作温度范围为−40°C至+85°C;而ADL6010S额定工作温度范围为−55°C,至+125°C,。这两款器件均采用6引脚、2 mm ×2 mm LFCSP封装。
应用
- 微波点对点链路
- 微波仪器仪表
- 雷达测量系统
产品生命周期
推荐新设计使用
本产品已上市。数据手册包含所有最终性能规格和工作条件。ADI公司推荐新设计使用这些产品。
评估套件 (1)
参考资料
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ADI民用雷达解决方案12/26/2016
-
RF、微波和毫米波IC选型指南7/13/2018PDF3 M
-
CN-0390:20 GHz至37.5 GHz,RF自动增益控制(AGC)电路 (Rev. 0)2/27/2017PDF453 K
-
CN0387:免校准回损测量系统 (Rev. A)10/23/2015PDF633 K
-
免校准VSWR测量11/28/2018
-
Calibration-Free Return Loss Measurement4/1/2016
-
理解、操作并实现基于二极管的集成式RF检波器接口11/1/2015
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使用具有精密相位控制的超宽带PLL/VCO替代YIG调谐振荡器硅片4/1/2015
工具及仿真模型
S参数
参考电路 (3)
设计资源
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Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
---|---|---|---|---|
ADL6010ACPZN | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
ADL6010ACPZN-R2 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
ADL6010ACPZN-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
ADL6010CHIPS | 材料声明 | 质量和可靠性 | CHIPS OR DIE | |
ADL6010CHIPS-SX | 材料声明 | 质量和可靠性 | CHIPS OR DIE | |
ADL6010SCPZN | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
ADL6010SCPZN-R2 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
ADL6010SCPZN-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 6-Lead LFCSP (2.05mm x 2.05mm w/ EP) | |
Wafer Fabrication Data |
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