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特性
- 超过IEC61036/60687标准要求
- 在1000:1的动态范围内有功功率测量误差小于0.1%
- 有功和视在功率、 Vrms和Irms 测量
- 高频脉冲输出
- 电压SAG和零交越
电流和电压峰值
反向有功功率
频率/周期测量 - 片内温度传感器和基准电压源(2.4 V)
- 低功耗:50mW(典型值)
ADE7754超过了IEC61036/60687标准的精度要求,并提供一个SPI接口来用于进行数字校准和读取寄存器数据。
ADE7754采用24引脚SOIC封装。
注意:如果应用要求测量无功功率和每个相位的信息,建议使用ADE7758
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ADE7754
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协会与标准
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产品技术资料帮助
ADI公司所提供的资料均视为准确、可靠。但本公司不为用户在应用过程中侵犯任何专利权或第三方权利承担任何责任。技术指标的修改不再另行通知。本公司既没有含蓄的允许,也不允许借用ADI公司的专利或专利权的名义。本文出现的商标和注册商标所有权分别属于相应的公司。
参考资料
数据手册 1
应用笔记 3
技术文章 10
协会与标准 17
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
---|---|---|---|
ADE7754ARZ | 24-Lead SOIC (Wide) |
|
|
ADE7754ARZRL | 24-Lead SOIC (Wide) |
|
- ADE7754ARZ
- 引脚/封装图-中文版
- 24-Lead SOIC (Wide)
- 文档
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CAD 符号,脚注和 3D模型
- Ultra Librarian
- SamacSys
- ADE7754ARZRL
- 引脚/封装图-中文版
- 24-Lead SOIC (Wide)
- 文档
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CAD 符号,脚注和 3D模型
- Ultra Librarian
- SamacSys
根据型号筛选
产品型号
产品生命周期
PCN
2月 7, 2011
- 10_0003
Halogen Free Material Change for SOIC Wide Body Products Assembled at Amkor
ADE7754ARZ
ADE7754ARZRL
2月 8, 2010
- 04_0080
Qualification of the 8" C6 and Q Wafer Fab Processes at Analog Devices, Limerick, Ireland.
根据型号筛选
产品型号
产品生命周期
PCN
2月 7, 2011
- 10_0003
Halogen Free Material Change for SOIC Wide Body Products Assembled at Amkor
2月 8, 2010
- 04_0080
Qualification of the 8" C6 and Q Wafer Fab Processes at Analog Devices, Limerick, Ireland.
软件和型号相关生态系统
部分模型 | 产品周期 | 描述 |
---|---|---|
量产 |
高性能三相电能计量IC |
|
量产 |
高性能、多相电能和电源质量测量IC |
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申请驱动/软件评估套件 1
EVAL-ADE7754
ADE7754评估板
产品详情
此文档介绍ADE7754评估套件的硬件和软件功能。该评估板(瓦特小时电表)通过PC的并行端口进行配置。评估板和PC之间的数据接口完全隔离。基于Windows™的软件随评估板提供,使其快速配置为电表。
ADE7754/ADE7758评估板、此文档以及ADE7754数据手册,为ADE7754提供了一个完整的评估平台。可通过设置跳线配置ADE7754评估板。
该评估板设计用于在最终应用(即瓦特小时电表)中评估ADE7754。借助电流通道(即CT)上的适当传感器,该评估板可连接至一个测试基准或高压(240 V rms)测试电路。板载电阻分压器网络为线路电压提供了衰减。本应用笔记还介绍如何连接电流传感器以获得较佳性能。该评估板需要两个外部5 V电源(一个电源起到隔离作用)和适当的电流传感器。