ADAQ7767-1 是一款 24 位精确数据采集 (DAQ) μModule^® 系统，它将信号调理、转换和处理模块集成到单个系统级封装 (SiP) 设计中，从而能够快速开发高度紧凑、高性能的精密 DAQ 系统。

ADAQ7767-1 包括以下部分：

• 四阶、低噪声、线性相位抗混叠滤波器 (AAF)
• 低噪声、低失真、高带宽、增益可选的 ADC 驱动器以及可选线性度升压缓冲器。
• 集成可编程数字滤波器的高性能中等带宽 24 位 sigma-delta 型 ADC。
• 低噪声、低压差 (LDO) 线性稳压器。
• 基准电压缓冲器
• 信号链所需的关键无源元件

ADAQ7767-1 支持多种输入类型，包括单极性和双极性单端、伪差分和差分信号，最大差分范围为 ±28.672 V，共模电压范围为 −16 V 至 +12 V（使用 IN3）。凭借 ADI 公司 iPASSIVES™ 技术的精确，ADAQ7767-1 具有出色的共模抑制比（CMRR）。三对引脚可选增益设置提供额外的系统动态范围，较低幅度的输入信号可改善信号链噪声性能。在需要高输入阻抗的应用中，ADAQ7767-1 允许客户选择他们喜欢的输入放大器。

四阶低通模拟滤波器与用户可编程数字滤波器相结合，确保信号链得到充分的保护，以防高频噪声和输入节点上出现的带外信号音混叠回目标频段。模拟低通滤波器经过精心设计，可实现高相位线性度和最大带内幅度响应平坦度。模拟低通滤波器中使用的电阻网络采用 ADI 公司的 iPASSIVES 技术构建，在绝对值和整个温度范围内均提供出色的电阻匹配。因此，信号链性能在温度漂移最小的情况下保持不变，ADAQ7767-1 具有出色的套件间相位匹配性能。

高性能模数转换器 (ADC) 驱动器放大器可确保 ADC 输入在最大采样速率下完全稳定建立。驱动器电路具有最小加性噪声、误差和失真，同时保持稳定性。全差分架构有助于最大程度提高信号链动态范围。

ADAQ7767-1 内部的 ADC 是一款高性能、24 位精度、单通道 Σ-Δ 型转换器，具有出色的交流性能和直流精度以及 1 MSPS 的吞吐速率（16.384 MHz MCLK 下）。该套件包含一个可选线性度升压缓冲器可进一步提高信号链线性度。

ADAQ7767-1 的额定输入基准电压为 4.096V，但该套件可支持从 VDD_ADC 低至 1V 的基准电压。

ADAQ7767-1 有两类基准电压缓冲器：一种预充电基准电压缓冲器用于简化基准输入驱动要求，另一种全基准电压缓冲器用于提供高阻抗基准输入。两种缓冲器是可选的，可通过寄存器配置关断。

ADAQ7767-1 支持三种时钟输入类型：晶振、互补金属氧化物半导体 (CMOS) 或低电压差分信号 (LVDS)。

ADAQ7767-1 上提供三类数字低通滤波器。宽带、低纹波、有限脉冲响应（FIR）滤波器具有与理想砖墙滤波器类似的滤波器轮廓，非常适合进行频率分析。sinc5 滤波器提供低延迟路径和平滑的阶跃响应，同时保持良好的混叠抑制水平。滤波器支持高达 1.024 MSPS 的输出数据速率（16.384 MHz MCLK 下），使 sinc5 滤波器非常适合低延迟数据采集和时域分析。sinc3 滤波器支持宽抽取率，可产生低至 50 SPS 的输出数据速率（16.384 MHz MCLK 下）。该 sinc3 滤波器与同时进行的 50 Hz/60 Hz 抑制后置滤波器相结合，使其特别适合精密直流测量。ADAQ7767-1 上的所有三个数字滤波器均为具有线性相位响应的 FIR 滤波器。这些滤波器的带宽直接对应于 DAQ 信号链的带宽，可通过寄存器配置完全编程。

ADAQ7767-1 支持两种套件配置方法。用户可以选择使用其串行外围接口 (SPI)，通过寄存器直写来配置套件，或者使用简单的硬件引脚绑定方法来配置套件，以便在各种预定义模式下工作。

单个 SPI 接口支持寄存器访问和样本数据回读功能。ADAQ7767-1 始终充当 SPI 目标。它支持多种接口模式，至少需要三个输入输出通道才能与套件通信。

ADAQ7767-1 具有一套内部诊断功能，可检测运行期间的各种错误，帮助提高系统可靠性。

通过使用内部低压差（LDO）稳压器，可以简化 ADAQ7767-1 电源连接。值得注意的是，还集成了 0.1 μF 去耦电容，以进一步减少分立元件的数量。

该套件的每个功能模块都可以进入待机模式或关断模式，使 ADAQ7767-1 的总功耗低于 0.5 mW。

ADAQ7767-1 的工作温度范围为 −40°C 至 +105°C，采用 12 mm x 6 mm、84 球 CSP_BGA 封装，球间距为 0.8 mm，适合多通道应用。ADAQ7767-1 的占用空间比使用分立元件的相同解决方案的尺寸小八倍。

应用

• 通用输入测量平台
• 电气测试和测量
• 声音和振动、声波和材料科学研发
• 控制和硬件在环验证
• 针对预测性维护的状态监控
• 音频测试

受美国专利 10,680,633 B1 保护
受美国专利 10,979,062 B2 保护