ADAR4002

推荐用于新设计

0.5 GHz 至 19 GHz、单通道、双向真实时间延迟单元

数据手册 (Rev. A) 产品选型表
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概述

  • 频率范围 0.5 GHz 至 19 GHz
  • 可编程 7 位时间延迟
  • 可编程时延范围
    • 时延范围 0：0 至 508ps 范围，4ps 标准分辨率
    • 时延范围 1：0 至 254ps 范围，2ps 高分辨率
  • 可编程6位衰减
    • 31.5 dB 调整范围
    • 0.5 dB 分辨率
  • 10 GHz 下的性能可达到最小时间延迟和衰减
    • 插入损耗
        • 时延范围 0：−20.5 分贝
        • 时延范围 1：−16.2 分贝
      • 输入 IP3
          • 时延范围 0：15.2 dBm
          • 时延范围 1：14.1 dBm
          • 输入 P1dB
              • 时延范围 0：5 dBm
              • 时延范围 1：4.1 dBm
            • 噪声系数
              • 时延范围 0：21.2 dB
              • 时延范围 1：16.6 dB
          • 可通过 3 线或 4 线 SPI 完全编程
          • 用于菊花链和快速数据加载的 14 位移位寄存器
          • 功耗：1 mW，使用 1.2V 和 1.0V 双电源
          • 14 引脚，3 mm × 2 mm，LFCSP

        ADAR4002-CSL 是一款低功耗宽带、双向、单通道、真实时间延迟单元 (TDU) 和数字步进衰减器 (DSA)。IC 具有 18.5 GHz 的带宽，频率范围为 0.5GHz 至 19 GHz，两个 RF 端口上的输入阻抗均为 50 Ω。TDU 具有两个可编程最大时间延迟，每个都有 7 位控制。范围 0 的最大延迟为 508 ps，分辨率为 4 ps（典型值）。此范围用于较低频率，其中 ADAR4002-CSL 的插入损耗较小，并且需要更多时间延迟才能实现完整的 360° 相位覆盖。范围 1 的最大延迟为 254 ps，分辨率为 2 ps（典型值）。与范围 0 相比，此范围的插入损耗较小，并且在 ADAR4002-CSL 具有较高插入损耗且需要较少时间延迟和较小分辨率的较高频率下很有用。DSA 具有 6 位分辨率，衰减范围为 0 dB 至 31.5 dB，步长为 0.5 dB。

        ADAR4002-CSL 旨在通过串行端口接口 (SPI) 或移位寄存器提供灵活的数字控制，以允许将多个芯片菊花链连接在一起。ADAR4002-CSL 包含 32 个 TDU 和 DSA 状态的寄存器内存。该存储器与片上序列器相结合，允许通过 UPDATE 引脚实现快速双向存储器推进。

        ADAR4002-CSL 采用 14 引脚、3 mm × 2 mm LFCSP 封装，额定工作温度范围为 −40°C 至 +85°C。有关其他应用和技术信息，请参阅“商业太空产品计划”手册和 ADAR4002 数据手册。

        应用

      • 电子可转向天线阵列
      • 多功能阵列
      • 卫星通信（SATCOM）
      • 雷达
      • 数据链路
      • 测试设备

        •
        ADAR4002
        0.5 GHz 至 19 GHz、单通道、双向真实时间延迟单元
        ADAR4002 - Chip ADAR4002 Functional Block Diagram
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        参考资料

        数据手册 1

        用户手册 1

        技术文章 4

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        特性和优点

        • 标准单端 50Ω 接口
        • 电源电压可轻松应用于测试环路或接头
        • P1 和 P10 接头上可用的 SPI 信号

        产品详情

        本用户指南介绍了适用于 ADAR4002 0.5GHz 至 19GHz、单通道双向真实时间延迟单元和可变衰减器的 ADAR4002-EVALZ 评估板套件，适用于相控阵应用。ADAR4002 具有数字步进衰减器 (DSA) 模块和时间延迟单元 (TDU) 模块。TDU 有两个可编程的时间延迟范围。范围 0 提供 508ps 时间延迟范围和 4ps 步长，而范围 1 提供 254ps 时间延迟范围和 2ps 步长。请参阅 ADAR4002 数据手册中的设备框图。

        ADAR4002-EVALZ 允许用户测试 ADAR4002 芯片提供的所有功能和特性，包括可变增益、可变时间延迟和两种数字模式（串行外设接口 (SPI) 和移位寄存器）。RF 信号走线采用 50Ω共面波导设计，连接到设备的 RF1 端口和 RF2 端口，从而可以与测试设备或其他印刷电路板（PCB）进行简单的接口。EVAL-SDP-CS1Z (SDP-S) 控制器板使用 ADAR4002 ACE 插件对 SPI 端口或移位寄存器进行编程。

        数据手册中提供了 ADAR4002 的完整描述和规格，使用 ADAR4002-EVALZ 评估板时应同时参考本用户指南。
        EVAL-ADAR4002
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