ADAR4002

推荐用于新设计

0.5 GHz 至 19 GHz、单通道、双向真实时间延迟单元

数据手册 (Rev. A) 产品选型表
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概述

  • 频率范围 0.5 GHz 至 19 GHz
  • 可编程 7 位时间延迟
  • 可编程时延范围
    • 时延范围 0：0 至 508ps 范围，4ps 标准分辨率
    • 时延范围 1：0 至 254ps 范围，2ps 高分辨率
  • 可编程6位衰减
    • 31.5 dB 调整范围
    • 0.5 dB 分辨率
  • 10 GHz 下的性能可达到最小时间延迟和衰减
    • 插入损耗
        • 时延范围 0：−20.5 分贝
        • 时延范围 1：−16.2 分贝
      • 输入 IP3
          • 时延范围 0：15.2 dBm
          • 时延范围 1：14.1 dBm
          • 输入 P1dB
              • 时延范围 0：5 dBm
              • 时延范围 1：4.1 dBm
            • 噪声系数
              • 时延范围 0：21.2 dB
              • 时延范围 1：16.6 dB
          • 可通过 3 线或 4 线 SPI 完全编程
          • 用于菊花链和快速数据加载的 14 位移位寄存器
          • 功耗：1 mW，使用 1.2V 和 1.0V 双电源
          • 14 引脚，3 mm × 2 mm，LFCSP
        ADAR4002
        0.5 GHz 至 19 GHz、单通道、双向真实时间延迟单元
        ADAR4002-chip-illustration.png ADAR4002 Functional Block Diagram
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        参考资料

        数据手册 2

        用户手册 1

        技术文章 4

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        EVAL-ADAR4002

        评估 ADAR4002 0.5GHz 至 19GHz、单通道、双向真实时间延迟单元

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        特性和优点

        • 标准单端 50Ω 接口
        • 电源电压可轻松应用于测试环路或接头
        • P1 和 P10 接头上可用的 SPI 信号

        产品详情

        本用户指南介绍了适用于 ADAR4002 0.5GHz 至 19GHz、单通道双向真实时间延迟单元和可变衰减器的 ADAR4002-EVALZ 评估板套件，适用于相控阵应用。ADAR4002 具有数字步进衰减器 (DSA) 模块和时间延迟单元 (TDU) 模块。TDU 有两个可编程的时间延迟范围。范围 0 提供 508ps 时间延迟范围和 4ps 步长，而范围 1 提供 254ps 时间延迟范围和 2ps 步长。请参阅 ADAR4002 数据手册中的设备框图。

        ADAR4002-EVALZ 允许用户测试 ADAR4002 芯片提供的所有功能和特性，包括可变增益、可变时间延迟和两种数字模式（串行外设接口 (SPI) 和移位寄存器）。RF 信号走线采用 50Ω共面波导设计，连接到设备的 RF1 端口和 RF2 端口，从而可以与测试设备或其他印刷电路板（PCB）进行简单的接口。EVAL-SDP-CS1Z (SDP-S) 控制器板使用 ADAR4002 ACE 插件对 SPI 端口或移位寄存器进行编程。

        数据手册中提供了 ADAR4002 的完整描述和规格，使用 ADAR4002-EVALZ 评估板时应同时参考本用户指南。
        EVAL-ADAR4002
        评估 ADAR4002 0.5GHz 至 19GHz、单通道、双向真实时间延迟单元
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