絶縁型ゲート・ドライバ

アナログ・デバイセズの小型フォーム・ファクタ絶縁型ゲート・ドライバは、SiC(炭化ケイ素)および GaN(窒化ガリウム)などの電力スイッチ・テクノロジに求められる高速スイッチングとシステム・サイズ制約に合わせて設計されていますが、同時に IGBT(絶縁型ゲート・バイポーラ・トランジスタ)および MOSFET(金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ)設定向けのスイッチング特性も信頼性高く制御します。これらの絶縁型ゲート・ドライバは、CMOS とモノリシック・トランス技術を組み合わせたアナログ・デバイセズの実績ある iCoupler 絶縁技術を利用して、コモンモード過渡耐圧(CMTI)性能を犠牲にすることなく超低伝搬遅延を実現します。高パルス忠実度のアーキテクチャにより、モータ出力効率は新しい効率レベルを満たすことができ、タイミング性能の安定性が増しますので電圧歪みが減り、さらにはソーラー・インバータの調波および出力容量が低下します。
製品セレクション・テーブル

Safety and Regulatory Compliance Information

The iCoupler family of digital isolation products have been tested and approved by various regulatory agencies, including UL, CSA, VDE, TÜV, CQC, ATEX and IECEx. This table summarizes the achieved ratings for each product and includes links to copies of the actual safety certificates.

View Product Safety Ratings


EMCのリソース

1つのコンポーネントであろうと、システム・レベルの大規模なソリューションに関わるものであろうと、EMCコンプライアンスの確保は必要であり、EMC設計のベスト・プラクティスは設計の開始時点から始まります。認定プロセスに備えると共に、競争で優位に立つために、当社が厳選したリソースをご活用ください。

認定プロセスを簡単に進める

Electromagnetic Compatibility (EMC) Resources

既存ソリューションの制約 ...
フォトカプラ・ゲート・ドライバ・ソリューションの制約
 Optocoupler-Based_Driver_Solution_sm
  • 劣るタイミング性能
    • 全体効率に影響するデッドタイムが長い
    • 伝搬遅延が大きい ≥350ns
    • デバイス間変動が大きい ≥200ns
    • 立上がり時間と立下がり時間の差が大きい ≥100ns
  • LED の劣化
    • 寿命が高温動作で10年以下
    • 大部分の動作定格が85°C
 
 高電圧ゲート・ドライバ・ソリューションの制約
 High-Voltage_Driver_Solution_sm
 
  • グリッチが電源電圧を超えるとラッチアップ
    • ジャンクション・アイソレーション (ブレークダウンするとラッチアップの原因となる) に依存
    • ラッチアップに関連する貫通の最善の防止策は電流アイソレーション
ADIのソリューション ...
iCoupler 絶縁型ゲートドライバにより、フォトカプラと高電圧ゲート・ドライバの制約を克服
 

Isolated_gate_driver_diagram
 
  • 小型のシングル・パッケージ・ソリューション
  • AC/DCコンバータ、DC/DCコンバータ、インバータ、モーター・コントロールで、最高速のタイミングにより、スイッチング速度を高速化して電力密度と効率を向上させます
  • 標準CMOSにより低価格で高い信頼性を可能にします
  • バランスしたプッシュプル出力ステージによりゲート駆動を簡素
  • 出力間の真の電流アイソレーションにより、ハイサイドとローサイドを分離するため相互導通を最小化




  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation 
  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation 
  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation