ADuM4177
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ADuM4177

スルー・レート制御とSPIを備えた30A絶縁型SiCゲート・ドライバ

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製品モデル 2
1Ku当たりの価格 最低価格:$4.25
機能
  • 30A(代表値)のピーク短絡電流駆動出力
  • 代表的なアプリケーションにおける20A(代表値)のピーク駆動電流
  • 出力電力デバイス抵抗< 0.4Ω
  • DIN V VDE 0884-11対応の1500V peakおよびDC動作電圧
  • SPIインターフェースによるスルー・レート制御
  • 短い伝搬遅延時間(代表値140ns)
  • 60nsの最小パルス幅
  • バイポーラおよびユニポーラの二次側電源機能
  • VDD1:4.4V~7V
  • VDD2-GND2:12V~24V
  • GND2-VSS2:0V~−5.5V
  • 保護機能:
  • DESAT − SiCドレイン検出、7V(代表値)閾値
  • プログラマブルな内部DESATブランキング時間
  • ASCピン、二次側ドライバ・ターンオン制御、8V(代表値)閾値
  • 外部ミラー・クランプ
  • ソフトシャットダウン、1µsの能力、外部抵抗により調整可能
  • VDD2-VSS2の過電圧保護(OVP)およびプログラマブルなVDD2-VSS2の低電圧保護(UVP)
  • GND2-VSS2のOVPおよびUVP
  • 故障通知ピンを通じた絶縁故障分離
  • SiCスイッチの絶縁が確保された温度検出
  • 1kHzのPWM、およびSPIレジスタ読出し
  • 温度検出ダイオード・スタック
  • 外部抵抗ネットワークを使用してNTCに対応可能
  • SPIインターフェース
  • 不揮発性EEPROMレジスタにより設定変更可能
  • 故障通知情報
  • 動作時ジャンクション温度範囲(−40ºC~150ºC)
製品概要
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ADuM4177は、アナログ・デバイセズのiCouper®技術を採用し、5kV rmsの絶縁機能を備えた先進的な絶縁型ゲート・ドライバです。このデバイスは、28ピン・ワイド・ボディSOICパッケージに収められ、沿面距離は8.3mmです。1060V rmsや1500V dcの動作電圧に対する絶縁がデバイスの寿命期間にわたって必要なアプリケーションに最適です。この絶縁型ゲート・ドライバは、高速CMOSとモノリシック・トランス技術を組み合わせ、需要の高まっている高性能炭化ケイ素(SiC)スイッチを駆動するのに適した、優れた性能特性を発揮します。SPI通信が使用できるため、ユーザ・プログラマブルな動作モードと故障リード・バックが可能です。

ADuM4177は、4.4V~7Vの入力電圧範囲で動作します。出力電圧は、正側レールが12V~24V、負側レールが−5.5V~−3.25Vのバイポーラ・ゲート駆動で動作できます。ゲート・ドライバとのSPI通信を介して、複数のプログラマブルな低電圧ロックアウト(UVLO)レベルを得ることができます。高電圧レベル変換方式を採用するゲート・ドライバと比較して、ADuM4177には、入力と出力が電気的に絶縁されるという利点があります。

ADuM4177には、ドレイン・モニタリング非飽和検出、アクティブ短絡(ASC)動作、外部温度検出、過電圧保護(OVP)および低電圧保護(UVP)など、多くの先進的な保護機能が備わっています。

調整可能なスルー・レート制御は、システムの動作ポイントがこれを実行できる場合に、高速のエッジ遷移と効率向上を実現するために使用できます。外部フィルタ・クランプにより、強力なプルダウンが可能となり、意図しないミラー・インジェクションによりターン・オンが誘起されるのを防ぐことができます。ADuM4177は、−40℃~150⁰Cの広いジャンクション温度範囲で動作できます。

そのため、ADuM4177は、SiCスイッチ構成のスイッチング特性を、広い範囲のスイッチング電圧において高い信頼度で制御できます。

アプリケーション

  • スイッチング電源
  • SiCゲート・ドライバ
  • 産業用インバータ
  • 力率補正

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アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。


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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

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アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン/パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
ADUM4177WBRNZ
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ADUM4177WBRNZ-RL
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ソフトウェアおよび製品のエコシステム

ソフトウェアおよび製品のエコシステム

評価用キット

評価用キット 1

reference details image

EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

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EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

機能と利点

  • 40 A (source), 30 A (sink) peak drive output capability
  • Output power device resistance: 0.38 Ω per MOSFET
  • Test infrastructure for
    • SPI communication
    • Slew-rate control
    • Desaturation detection
    • Miller drive
    • Active short-circuit
    • Temperature sensing
    • Fault reporting
    • Multiple dummy loads

製品の詳細

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board shows the advanced features of the ADuM4177 while maintaining flexibility in a testing environment. The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board layout delivers a circuit that is easy to control through jumper pins and with access to all of the pins through headers and input and output connectors. A more optimized layout is possible that increases the performance of the system.

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board works with the USB-SDP-CABLEZ programming cable to access the secondary side electronically erasable programmable read-only memory (EEPROM) and includes the option to drive the serial-peripheral interface (SPI) bus with any other SPI compatible system. The USB-SDP-CABLEZ operates with a 3.3 V logic supply, while the ADuM4177 is typically powered with 5 V. Resistor dividers are added on the SPI channels to allow interfacing.

The user guide shows how to use the ADuM4177 evaluation board to perform basic evaluations such as propagation delay testing, active short-circuit (ASC) function, and desaturation (DESAT). The user guide also shows how to use the evaluation software to access the user configurable bits and explains how to simulate EEPROM settings and program bits into nonvolatile memory.

Full specifications on the ADuM4177 are available in the ADuM4177 data sheet available from Analog Devices, Inc., and must be consulted with the user guide when using the EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board.

ツールおよびシミュレーション

ツールおよびシミュレーション 1

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