ADuM4177
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ADuM4177

具有摆率控制和BIST功能的40 A拉电流和30 A灌电流SiC隔离式栅极驱动器

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特性
  • 40 A拉电流、30 A灌电流峰值短路(典型)驱动输出
  • 典型应用中的20 A峰值驱动电流(典型值)
  • 输出功率器件电阻:每通道0.38 Ω(典型值)
  • 1500 V峰值和直流工作电压(DIN EN IEC 60747-17)
  • 通过SPI接口实施摆率控制
  • 低传输延迟:108 ns(典型值)
  • 脉冲宽度:60 ns(最小值)
  • 双极和单极次级侧供电功能
    • VDD1:4.4 V至7 V
    • VDD2至VSS2:15 V至23 V
    • VDD2至GND2:12 V至23 V
    • VSS2至GND2:−5 V至−3.25 V(双极供电模式)
    • VSS2至GND2:0V(单极供电模式)
  • 保护特性:
  • DESAT–SiC漏极检测,7 V(典型值)阈值
    • 可编程内部DESAT消隐时间
  • ASC引脚,次级侧驱动器开启控制
  • 外部米勒箝位
  • 软关断,1 μs,可通过外部电阻调节
  • VDD2至VSS2 OVP和可编程VDD2至VSS2 UVP
  • VSS2至GND2 OVP和UVP
  • 通过故障报告引脚判断隔离故障
  • SiC开关隔离式温度检测
    • 1 kHz PWM和SPI寄存器读取
    • 温度检测二极管堆栈
    • 与使用外部电阻网络的NTC兼容
  • 内置自测(BIST)
  • SPI
  • 非易失性EEPROM寄存器,用于实现可配置性
  • 故障报告信息
  • 工作结温范围:−40℃至+150℃
  • 采用28引脚SOIC_W_FP封装
  • 通过AEC-Q100汽车应用认证
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ADuM4177是一款高性能隔离式栅极驱动器,采用ADI公司的iCoupler®技术,提供5.7 kV RMS隔离。ADuM4177采用28引脚宽体SOIC封装,提供8.3 mm爬电距离。此器件适用于需要在器件使用寿命内隔离1060 V RMS和1500 V DC工作电压的应用。这些隔离式栅极驱动器组合使用高速CMOS和单芯片变压器技术,提供出色的性能,适合驱动要求严苛的高性能碳化硅(SiC)开关。串行外设接口(SPI)通信支持用户可编程工作模式和故障回读。此外还具有BIST功能,使ADuM4177适用于ASIL D系统。

ADuM4177的输入电压范围为4.4 V至7 V。如果VDD2和VSS2在15 V至23 V范围内,输出电压可驱动双极栅极驱动器,该驱动器的正极电压为12 V至23 V,负电压轨电压为−5 V至−3.25 V。可通过与栅极驱动器进行SPI通信来获取多个可编程的欠压保护(UVLO)电平。与采用高压电平转换方法的栅极驱动器相比,ADuM4177的输入与输出之间具有真电气隔离优势。

ADuM4177包括许多出众的保护功能,例如漏极监测去饱和检测、主动短路(ASC)操作、外部温度检测以及过压保护(OVP)和欠压保护(UVP)。

提供可调的摆率控制,在系统操作点可以接受时,提供更快的边沿跃迁和更高的效率。外部米勒箝位可以实现更强下拉效果,防止米勒注入在受诱导时意外开启。ADuM4177支持-40⁰C至+150⁰C的宽结温范围。

因此,ADuM4177可以在很宽的切换电压范围内,可靠地控制SiC开关配置的开关特性。

应用

  • SiC、MOSFET、IGBT栅极驱动器
  • 电动汽车(EV)和混合动力电动汽车(HEV)牵引逆变器
  • 开关电源
  • SiC栅极驱动器
  • 工业逆变器
  • 功率因数校正

产品技术资料帮助

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参考资料

视频

产品型号 引脚/封装图-中文版 文档 CAD 符号,脚注和 3D模型
ADUM4177WBRNZ
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软件和型号相关生态系统

评估套件 1

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EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

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EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

特性和优点

  • 40 A (source), 30 A (sink) peak drive output capability
  • Output power device resistance: 0.38 Ω per MOSFET
  • Test infrastructure for
    • SPI communication
    • Slew-rate control
    • Desaturation detection
    • Miller drive
    • Active short-circuit
    • Temperature sensing
    • Fault reporting
    • Multiple dummy loads

产品详情

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board shows the advanced features of the ADuM4177 while maintaining flexibility in a testing environment. The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board layout delivers a circuit that is easy to control through jumper pins and with access to all of the pins through headers and input and output connectors. A more optimized layout is possible that increases the performance of the system.

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board works with the USB-SDP-CABLEZ programming cable to access the secondary side electronically erasable programmable read-only memory (EEPROM) and includes the option to drive the serial-peripheral interface (SPI) bus with any other SPI compatible system. The USB-SDP-CABLEZ operates with a 3.3 V logic supply, while the ADuM4177 is typically powered with 5 V. Resistor dividers are added on the SPI channels to allow interfacing.

The user guide shows how to use the ADuM4177 evaluation board to perform basic evaluations such as propagation delay testing, active short-circuit (ASC) function, and desaturation (DESAT). The user guide also shows how to use the evaluation software to access the user configurable bits and explains how to simulate EEPROM settings and program bits into nonvolatile memory.

Full specifications on the ADuM4177 are available in the ADuM4177 data sheet available from Analog Devices, Inc., and must be consulted with the user guide when using the EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board.

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