絶縁型ゲート・ドライバ

アナログ・デバイセズの小型フォーム・ファクタ絶縁型ゲート・ドライバは、SiC(炭化ケイ素)および GaN(窒化ガリウム)などの電力スイッチ・テクノロジに求められる高速スイッチングとシステム・サイズ制約に合わせて設計されていますが、同時に IGBT(絶縁型ゲート・バイポーラ・トランジスタ)および MOSFET(金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ)設定向けのスイッチング特性も信頼性高く制御します。これらの絶縁型ゲート・ドライバは、CMOS とモノリシック・トランス技術を組み合わせたアナログ・デバイセズの実績ある iCoupler 絶縁技術を利用して、コモンモード過渡耐圧(CMTI)性能を犠牲にすることなく超低伝搬遅延を実現します。高パルス忠実度のアーキテクチャにより、モータ出力効率は新しい効率レベルを満たすことができ、タイミング性能の安定性が増しますので電圧歪みが減り、さらにはソーラー・インバータの調波および出力容量が低下します。
製品セレクション・テーブル

安全性および規制コンプライアンスに関する情報

デジタル・アイソレーション製品のiCouplerファミリは、UL、CSA、VDE、TÜV、CQC、ATEX、IECExなどの様々な規制機関によってテストされ承認されています。この表は、各製品で達成された等級をまとめたもので、実際の安全性証明書のコピーへのリンクが含まれています。

製品の安全性等級を確認する


EMCのリソース

1つのコンポーネントであろうと、システム・レベルの大規模なソリューションに関わるものであろうと、EMCコンプライアンスの確保は必要であり、EMC設計のベスト・プラクティスは設計の開始時点から始まります。認定プロセスに備えると共に、競争で優位に立つために、当社が厳選したリソースをご活用ください。

認定プロセスを簡単に進める

Electromagnetic Compatibility (EMC) Resources

既存ソリューションの制約 ...
フォトカプラ・ゲート・ドライバ・ソリューションの制約
 Optocoupler-Based_Driver_Solution_sm
  • 劣るタイミング性能
    • 全体効率に影響するデッドタイムが長い
    • 伝搬遅延が大きい ≥350ns
    • デバイス間変動が大きい ≥200ns
    • 立上がり時間と立下がり時間の差が大きい ≥100ns
  • LED の劣化
    • 寿命が高温動作で10年以下
    • 大部分の動作定格が85°C
 
 高電圧ゲート・ドライバ・ソリューションの制約
 High-Voltage_Driver_Solution_sm
 
  • グリッチが電源電圧を超えるとラッチアップ
    • ジャンクション・アイソレーション (ブレークダウンするとラッチアップの原因となる) に依存
    • ラッチアップに関連する貫通の最善の防止策は電流アイソレーション
ADIのソリューション ...
iCoupler 絶縁型ゲートドライバにより、フォトカプラと高電圧ゲート・ドライバの制約を克服
 

Isolated_gate_driver_diagram
 
  • 小型のシングル・パッケージ・ソリューション
  • AC/DCコンバータ、DC/DCコンバータ、インバータ、モーター・コントロールで、最高速のタイミングにより、スイッチング速度を高速化して電力密度と効率を向上させます
  • 標準CMOSにより低価格で高い信頼性を可能にします
  • バランスしたプッシュプル出力ステージによりゲート駆動を簡素
  • 出力間の真の電流アイソレーションにより、ハイサイドとローサイドを分離するため相互導通を最小化




  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation 
  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation 
  • Latch-Up When Glitches Go 
    Beyond the Supply Voltage
    • Rely on junction isolation which
      can breakdown and cause latch-up
    • Latch-up related shoot through
      best avoided with galvanic isolation