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概览
优势和特点
- 双向缓冲器增加了扇出端数
- 与负载无关的 60mV 缓冲器偏移
- 在总线被固定于低电平时可选择的断接
- 在背板上进行带电电路板插拔操作期间可防止 SDA 和 SCL 受损
- 电平移位 2.5V、3.3V 和 5V 总线
- 与标准以外的 VOL I2C 设备兼容
- 高达 ±6kV 的人体模型 ESD 防护坚固性
- 输入 SDA 和 SCL 线与输出的隔离
- 与 I2C™、I2C 快速模式和 SMBus 相兼容
- READY 漏极开路输出
- FAULT 漏极开路输出
- 在所有的 SDA 和 SCL 线上进行了 1V 预充电
- 可选的上升时间加速器
- 用于 VCC = 0V 的高阻抗 SDA、SCL 引脚
- 采用小外形 12 引脚 DFN (4mm x 3mm) DFN 和 16 引脚 SSOP 封装
产品详情
LTC®4309 热插拔二线式总线缓冲器允许在带电背板上进行 I/O 板卡的插拔操作,而不会损坏数据和时钟总线。LTC4309 提供了双向缓冲,从而保持了背板与板卡电容的隔离。低偏移和高 VOL 容限允许在时钟和数据总线上进行多个器件的级联。如果 SDAOUT 或 SCLOUT 处于低电平的持续时间达到 30ms,则 FAULT 引脚将被拉至低电平,以指示一种总线被固定于低电平的条件。如果 DISCEN 引脚被连接至高电平,则 LTC4309 将自动中断总线连接,并产生多达 16 个时钟脉冲和一个停止位以试图释放总线。如果总线阻塞状态被清除,则将恢复连接。如果 DISCEN 引脚被连接至 GND,则总线将保持连接状态,而不会产生时钟或停止位。ACC 输入负责使能上升时间加速器以用于施加了高容性负载的总线。
在插入操作期间,SDA 和 SCL 线被预先充电至 1V,以较大限度地抑制总线扰动。当被驱动至高电平时,ENABLE 输入将允许 LTC4309 在一个停止位或总线空闲之后进行连接。把 ENABLE 引脚驱动至低电平将中断 SDAIN 和 SDAOUT 之间以及 SCLIN 和 SCLOUT 之间的连接。READY 是一个漏极开路输出,当背板与板卡侧相连接时,它将发出指示信号。
应用
- 带电电路板插入
- 服务器
- 电容缓冲器/总线扩展器
- RAID 系统
- ATCA
产品分类
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。
参考资料
-
R527 Reliability Data3/26/2018
-
数字隔离器产品选型与资源指南2/7/2020
-
Serial Bus Buffers, Extenders, and Accelerators7/13/2017
-
I2C Quick Guide7/13/2017
-
保护您的创新:从高精度到高电压10/24/2022
配套产品推荐
LTC4309 配套产品
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
---|---|---|---|---|
LTC4309CDE#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 12-Lead DFN (4mm x 3mm w/ EP) | |
LTC4309CDE#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 12-Lead DFN (4mm x 3mm w/ EP) | |
LTC4309CGN#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch) | |
LTC4309CGN#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch) | |
LTC4309IDE#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 12-Lead DFN (4mm x 3mm w/ EP) | |
LTC4309IDE#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 12-Lead DFN (4mm x 3mm w/ EP) | |
LTC4309IGN#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch) | |
LTC4309IGN#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch) | |
Wafer Fabrication Data | R527 Reliability Data |
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