概览
优势和特点
- 2 种可选择的数据速率，高达 1.6 GHz 或 3.2 Gbps 的最大切换速率
- DCL 禁用模式（极低漏电流通常为 <10 nA）
- 电源和速度可编程（激活驱动器和比较器）
- 每通道低速功耗 1.025 W（案例 A）
- 每通道高速功耗 1.125 W（案例 B）
- 电压驱动器
- 具有高阻抗和反射钳位的 3 级驱动器
- 电压范围：–1.5 V 至 +4.5 V（+5 V 扩展范围）
- 精确调整的输出电阻
- 功能幅度 (VIH – VIL)：0.05 V（最小值）至 6.0 V（最大值）
- 312.5 ps 最小脉冲宽度（1.0 V 可编程摆幅）
- 26 ps 确定性抖动，1.4 ps 随机抖动
- 比较器
- 差分和单端窗口模式
- 输入电压范围：–1.5 V 至 +4.5 V（+5 V 扩展范围）
- 130 ps ERT/EFT 正常窗口比较器 1.0 V，端接
- 有源负载：电流范围为 ±12 mA
- VHH 驱动
- 专用 VHH 输出引脚
- 电压范围：0.0 V 至 13.5 V
- 直流电平
- 完全集成的专用 16 位 DAC
- 具有自动加和乘功能的片内增益和失调校准寄存器
- 封装：9 mm × 9 mm、121 球芯片级封装球栅阵列 [CSP_BGA]
产品详情
ADATE324是一款完整的单芯片、四通道自动测试设备(ATE)解决方案，用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)的引脚电子(PE)功能。该器件还具有每芯片高电压(VHH)驱动能力以支持闪存测试应用。集成片内校准寄存器的专用16位数模转换器(DAC)可提供器件工作所需的所有直流电平。
电压驱动器提供三种有源状态：高、低和端接模式，以及一种高阻抗抑制状态。当驱动器未对此线路进行有源端接时，抑制状态以及集成动态箝位有利于传输线路反射的显著衰减。开路驱动能力为−1.5 V至+4.5 V，支持各种标准自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。
ADATE324可用作四通道、单端引脚电子通道或双通道差分通道。除了每通道高速窗口比较器之外，ADATE324提供两个适合差分ATE应用的可编程阈值差分比较器。
用于DCL功能的所有直流电平都由专用片内16位DAC产生。为了支持精确的编程电平，ADATE324还集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和偏置误差。校正系数可以存储在片内，写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。
ADATE324使用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。该器件还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路，用于监控和报告器件温度，以及工作期间可能发生的任何输出引脚电压故障。
欲了解有关ADATE324的更多信息，请联系 ADATE324@analog.com。
应用
- ATE
- 半导体和电路板测试系统
- 仪器仪表和表征设备
产品分类
产品生命周期
推荐新设计使用
本产品已上市。数据手册包含所有最终性能规格和工作条件。ADI公司推荐新设计使用这些产品。
参考资料
设计资源
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| Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
|---|---|---|---|---|
| ADATE324KBCZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | CHIP SCALE BGA | |
| Wafer Fabrication Data |
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