概览
优势和特点
- 易于使用
- 引脚设置增益：10，100
- 宽电源电压范围：±2.3 V ～ ±18 V
- 直流特性（B级，G = 10）
- 增益漂移：2 ppm/°C
- 增益误差：0.02%
- 最大输入失调电压：50 µV
- 最大输入失调漂移：0.8 µV/°C
- 最大输入偏置电流：0.6 nA
- 共模抑制比（CMRR）：100 dB
- 交流特性
- –3 dB带宽：650 kHz（G = 10）
- 压摆率：2 V/µs
- 低噪声
- 1 kHz频率下，8 nV/√Hz （G = 100）
- 0.1 Hz～10 Hz，0.3µV p-p （G = 100）
产品详情
AD8228是一款高性能仪表放大器，具有非常高的增益精度和极低的漂移。由于内置增益设定电阻并经过激光微调，因此该器件的增益精度和增益漂移性能优于典型的仪表放大器。
低电压失调、低失调漂移、低增益漂移、高增益精度和高共模抑制比的特点使这款器件成为需要最佳直流性能应用的理想选择，例如电桥信号调理。
AD8228采用单电源或双电源供电，能在高达±18 V的电源电压下工作，适用于高共模输入电压的应用。AD8228采用低成本的8引脚MSOP和SOIC封装。
在工业温度范围-40°C～+85°C内，AD8228级别的产品均能保证性能，而且，AD8228还支持-40°C～+125°C的温度范围。AD8221与AD8228引脚兼容，特性相似，增益范围为1～1000。
应用
- 电子秤
- 工业过程控制
- 电桥放大器
- 精密数据采集系统
- 医疗仪器
- 应变计
- 传感器接口
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计，但也可能有更新的替代产品。
评估套件 (1)
参考资料
-
AN-1401: 仪表放大器共模范围：钻石图 (Rev. 0)10/14/2016
-
UG-261：针对AD62x、AD822x和AD842x系列的评估板3/18/2011
-
ADI ICT/FCT 设备解决方案1/1/2017
-
ADI公司电磁流量计解决方案12/26/2016
-
ADI公司电磁流量计解决方案4/1/2016
-
电磁流量计可在工业应用中实现高精度2/1/2014 模拟对话
-
High-performance Adder Uses Instrumentation Amplifiers9/3/2009
-
工业过程控制应用的电磁流量计设计6/16/2016
工具及仿真模型
仪表放大器钻石图工具
钻石图工具是一个网络应用程序，可生成特定配置的输出电压范围与输入共模电压关系图，也被称为钻石图，适用于ADI仪表放大器。 根据电源电压、增益和输入信号范围等用户输入参数，该工具可检测设计饱和情况，推荐合适的仪表放大器使输入信号在规格范围内并且配置的电路是有效的。 该工具能避免设计饱和，找到适合设计的仪表放大器，节省设计时间。
SPICE模型
CIR
AD8228 SPICE Macro-Model
3.29 K
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
| Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
|---|---|---|---|---|
| AD8228ARMZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228ARMZ-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228ARMZ-RL | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228ARZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
| AD8228ARZ-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
| AD8228BRMZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228BRMZ-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228BRMZ-RL | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead MSOP | |
| AD8228BRZ | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
| AD8228BRZ-R7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
| AD8228BRZ-RL | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC | |
| Wafer Fabrication Data |
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