ADXL357
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ADXL357

3軸 MEMS加速度センサー、低ノイズ、低ドリフト、低消費電力、デジタル出力

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よく聞かれる質問(FAQ)

製品モデル 3
1Ku当たりの価格 最低価格:$40.92
特長
  • ハーメチック・パッケージにより優れた長期安定性が得られる
  • 0 g オフセットの温度特性(全軸): 0.75 mg/°C(max)
  • 超低ノイズ密度(全軸): 75 μg/√Hz
  • 低消費電力、VSUPPLY (LDO レギュレータ・イネーブル)
    • 測定モード: 200 μA
    • スタンバイ・モード: 21 μA
  • デジタル出力の機能
    • デジタルSPI /I2Cインターフェース
    • 20ビットA/D コンバータ(ADC)
    • 同期サンプリング用データ・インターポレーション・ルーチン
    • プログラマブル・ハイパス/ローパス・デジタル・フィルタ
  • 温度センサーを内蔵
  • 電圧範囲のオプション
  • 内部レギュレータ付きVSUPPLY: 2.25 V ~ 3.6 V
  • 内部LDOレギュレータをバイパスしたV1P8ANA、 V1P8DIG: 1.8 V(typ) ± 10%
  • 動作温度範囲: −40 °C ~ +125 °C
  • 14端子、6 mm × 6 mm × 2.2 mm、LCCパッケージ
製品概要
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アナログ出力のADXL356とデジタル出力のADXL357は低ノイズ密度、低0 gオフセット・ドリフト、低消費電力の3軸加速度計で、測定範囲は選択可能です。ADXL356Bは範囲±10 g と範囲±20 gをサポートし、ADXL356Cは範囲±10 g および範囲±40 gをサポートし、ADXL357は±10 g、±20 g、±40 gの範囲をサポートします。

ADXL356/ADXL357は業界最先端のノイズ、全温度範囲にわたる最小オフセット・ドリフト、長時間安定性を提供し、最小のキャリブレーションで高精度なアプリケーションを可能にします。

低ドリフト、低ノイズ、低消費電力のADXL357は高い振動のある環境で高精度な傾斜計測が可能です。ADXL356はより高い周波数まで低ノイズなので、状態基準保全やその他の振動センシング・アプリケーションに最適です。

ADXL357の多機能ピンの名称は、シリアル・ペリフェラル・インターフェース(SPI)や機能限定I2Cインターフェースの該当する機能のみで表される場合があります。

アプリケーション

 

  • 慣性計測ユニット(IMU)/姿勢方位基準装置(AHRS)
  • プラットホーム安定化装置
  • 構造の健全性モニタリング
  • 地震画像処理
  • 傾斜検知
  • ロボット
  • 状態監視

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利用上の注意

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アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。


本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。

なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

ドキュメント

ドキュメント

ビデオ

アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン/パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
ADXL357BEZ
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ADXL357BEZ-RL
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ADXL357BEZ-RL7
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モデルでフィルタ

reset

絞り込み条件をリセット

製品モデル

製品ライフサイクル

PCN

7 20, 2022

- 22_0133

Carsem-M as an Alternate Assembly Site for LCC package for ADXL35X Family

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

8 9, 2018

- 18_0115

MEMS Die Attach Change for ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

7 13, 2018

- 17_0029

ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357 Assembly Transfer to Cirtek and Wire Change

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

2 9, 2018

- 18_0025

Sensor Die Size Change for MEMs Products ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

モデルでフィルタ

reset

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製品モデル

製品ライフサイクル

PCN

7 20, 2022

- 22_0133

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Carsem-M as an Alternate Assembly Site for LCC package for ADXL35X Family

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

8 9, 2018

- 18_0115

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MEMS Die Attach Change for ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

7 13, 2018

- 17_0029

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ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357 Assembly Transfer to Cirtek and Wire Change

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

ADXL357BEZ-RL7

製造中

2 9, 2018

- 18_0025

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Sensor Die Size Change for MEMs Products ADXL354, ADXL355, ADXL356, ADXL357

ADXL357BEZ

製造中

ADXL357BEZ-RL

製造中

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製造中

評価用キット

評価用キット 2

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EVAL-ADXL35x-SDP

ADXL35xカスタマ評価用システム

zoom

EVAL-ADXL35x-SDP

ADXL35xカスタマ評価用システム

ADXL35xカスタマ評価用システム

機能と利点

  • Separates device under test (DUT) from controller for accurate environmental testing
  • Data capture up to maximum device output data rate (ODR)
  • Standard USB cable for power and communications
  • PC-based, user friendly graphical user interface (GUI)
  • Fast and easy installation
  • Captures, visualizes, and saves the data

製品の詳細

EVAL-ADXL35x-SDPは、容易に導入可能なカスタマ評価システムで、ADXL355またはADXL357加速度センサーのテストと評価を迅速に開始できます。このシステムは、メイン・ボード(EVAL-SDP-CB1Z評価用プラットフォーム)、インターフェース・ボード(EVAL-SDP-INTER4-Z)、サテライト・ボード(EVAL-ADXL355ZまたはEVAL-ADXL357Zブレークアウト・ボード)で構成されています。

EVAL-SDP-CB1Zボードは「SDP-B」とも呼ばれ、USBケーブルを介して直接PCに接続されます。このUSB接続によって、通信とボードへの電源供給の両方が行われます。SDP-Bはインターフェース・ボード(EVAL-SDP-INTER4-Z)に接続されます。これにより、シグナル・コンディショニングと電気的接続を提供し、ケーブルを介してサテライト・ボード(EVAL-ADXL355ZまたはEVAL-ADXL357Z)と通信できるようにします。このケーブルによってサテライトを容易に扱えるため、温度試験や湿度試験のためにサテライトを個別に環境チャンバに配置したりテストしたりといったことが行えます。ボードを分離することで、他の部品の温度や湿度の影響によるデータの破損リスクを軽減できます。

EVAL-ADXL35x-SDPカスタマ評価システムには、必要なケーブルとコネクタがすべて付属しています。

reference details image

EVAL-ADXL35X

ADXL354/ADXL355/ADXL356/ADXL357 Breakout Board

zoom

EVAL-ADXL35X

ADXL354/ADXL355/ADXL356/ADXL357 Breakout Board

ADXL354/ADXL355/ADXL356/ADXL357 Breakout Board

機能と利点

  • 2 sets of spaced vias for populating 6-pin headers
  • Easily attachable to prototyping board or PCB
  • Small size and board stiffness minimize impact on the system being monitored and acceleration measurements

製品の詳細

The EVAL-ADXL35x-Z are simple evaluation boards that allow quick evaluation of the performance of Analog Devices new series of low power, low noise, low drift 3-axis, MEMS accelerometers. The series consists of both analog and digital output devices, supporting a variety of Full Scale Ranges (FSR). The model descriptions are shown in the ordering guide below. These evaluation boards are ideal for evaluation of the ADXL35x accelerometer series in an existing system because the stiffness and the small size of the evaluation board minimize the effect of the board on both the system and acceleration measurements.

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