ATE（自動試験装置）
アナログ・デバイセズは、高性能でコスト効率に優れた半導体テスト用に設計された自動試験装置（ATE）を中心とする包括的な製品ポートフォリオを提供しています。統合化ピン・エレクトロニクス（PE）は、電圧と電流を正確に制御してデジタル信号を駆動します。これらのPE製品には、レベル設定DACを介して制御されるパーピン・パラメトリック測定ユニット（PPMU）が集積されています。デバイス電源（DPS）は、被試
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MAX32001
新規設計に推奨
Dual Channel 2.0Gbps Pin-electronics with PMU Multiplexer Switches
ADATE324
新規設計に推奨
VHH駆動能力、レベル設定DAC、およびオンチップ・キャリブレーション・レジスタを備えた集積型1.6GHzクワッドDCL
MAX32007
新規設計に推奨
レベル設定DAC、ケーブル・ドループ補償、PMUスイッチを備えたオクタル3.0Gbps DCL
ADATE334
新規設計に推奨
PPMU、レベル設定DAC、およびオンチップ・キャリブレーション・レジスタを備えた2.3GHzデュアル内蔵DCL
ADATE320
新規設計に推奨
全機能内蔵DCL、デュアル、1.25 GHz、PPMU／レベル設定用DAC／調整用レジスタ内蔵
MAX19005
製造中
クワッド、超低電力、200Mbps ATEドライバ/コンパレータ
ADATE318
新規設計に推奨
全機能内蔵DCL、デュアル、600 MHz、PPMU／VHHドライブ機能／レベル設定用DAC／キャリブレーション・エンジン内蔵
MAX9979
製造中
PMUおよびレベル設定DAC内蔵、デュアル1.1Gbpsピンエレクトロニクス
AD5560
製造中
1.2A プログラマブル・デバイス・パワー・サプライ（DPS）、16ビット・レベル設定用DAC内蔵
ADATE302-02
製造中
DCL、500MHz、デュアル、差動ドライブ／受信チャンネル、レベル設定DAC、パーピンPMUを集積
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