概览
优势和特点
- 经 100% 测试的稳定时间 (至 1mV，在求和节点，10V 阶跃)：340ns (典型值)，540ns (最大值)
- 采用固定的反馈电容器进行测试
- 摆率：60V/μs (最小值)
- 增益带宽积：14MHz
- 功率带宽 (20VP-P)：1.2MHz
- 具稳定的单位增益；相位裕量为 60°
- 输入失调电压：600μV (最大值)
- 输入偏置电流：25ºC 时的最大值为 75pA；70ºC 时的最大值为600pA
- 输入失调电流：25ºC 时的最大值为 40pA；70ºC 时的最大值为 150pA
- 低失真
产品详情
LT®1122 JFET 输入运算放大器兼具高速度和精准性能。
一种独特的多栅 JFET 工艺较大限度地减小了栅极串联电阻和栅极至漏极电容，有利于实现宽带宽性能，并且不会损害 JFET 晶体管匹配。
该器件的摆率为80V/μs，并可在 340ns 的时间里实现稳定。LT1122 在内部进行补偿以获得稳定的单位增益，而且其在电源电流仅为 7mA 的情况下拥有一个 14MHz 的带宽。LT1122 的高速度使其成为实现 12 位数据转换和采集系统之快速稳定的理想选择。
另外，LT1122 120μV 的失调电压和 500,000 的电压增益还可支持准确度达 12 位的应用。
10pA 的输入偏置电流和 4pA 的失调电流与其速度性能相结合，使得 LT1122 能够在诸如高速采样及保持放大器、峰值检波器和积分器等应用中使用。
应用
- 快速 12 位 D/A 输出放大器
- 高速缓冲器
- 快速采样及保持放大器
- 高速积分器
- 电压至频率转换器
- 有源滤波器
- 对数放大器
- 峰值检波器
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计，但也可能有更新的替代产品。
评估套件 (1)
参考资料
工具及仿真模型
LTspice中提供以下器件型号：
LT1122
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
| Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
|---|---|---|---|---|
| LT1122ACN8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead PDIP (Narrow 0.3 Inch) | |
| LT1122BCN8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead PDIP (Narrow 0.3 Inch) | |
| LT1122CCN8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead PDIP (Narrow 0.3 Inch) | |
| LT1122CS8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC (Narrow 0.15 Inch) | |
| LT1122CS8#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC (Narrow 0.15 Inch) | |
| LT1122DCN8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead PDIP (Narrow 0.3 Inch) | |
| LT1122DS8#PBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC (Narrow 0.15 Inch) | |
| LT1122DS8#TRPBF | 材料声明 | 质量和可靠性 | 8-Lead SOIC (Narrow 0.15 Inch) | |
| Wafer Fabrication Data | R172 Reliability Data |
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