AD53509G

量产

单芯片、高性能驱动器/比较器有源负载

数据手册 (Rev. B) 产品选型表
产品技术资料帮助

ADI公司所提供的资料均视为准确、可靠。但本公司不为用户在应用过程中侵犯任何专利权或第三方权利承担任何责任。技术指标的修改不再另行通知。本公司既没有含蓄的允许，也不允许借用ADI公司的专利或专利权的名义。本文出现的商标和注册商标所有权分别属于相应的公司。
Viewing:

概述

AD53509是一款单芯片器件，用于在ATE VLSI和存储器测试仪中执行驱动器、比较器和有源负载的引脚电子功能。此外，它还内置一个用于有源负载的肖特基二极管桥和一个VCOM缓冲器。

驱动器采用专有设计，提供三种有源状态：数据高电平状态、数据低电平状态和期限状态，以及一种抑制状态。输出电压范围为−2 V至+7 V，支持多种测试设备。整个信号范围内的输出漏电流典型值小于250 nA。

双通道比较器的输入范围与驱动器输出范围相同，内置锁存器并提供ECL兼容型输出。输出能够驱动端接到−2 V电压的50 Ω信号线路。信号跟踪能力大于>5 V/ns。

有源负载可以用来提供最高40 mA的负载电流，整个设置范围内的线性度误差小于10 μA。IOH、IOL和缓冲VCOM均可独立调整。片上肖特基二极管具有高速开关和低电容特性。

片内还集成温度传感器，其作用是指示DCL的表面温度。可以利用此信息来测量θJC和θJA，或者在失去正常冷却功能时提示报警。传感器输出是一个与绝对温度成比例的吸电流。增益被调整到1.0 μA/K的标称值。例如，可以利用一个连接在10 V电压与THERM引脚之间的10 kΩ电阻来检测输出电流。该电阻上的压降为：

10 K × 1 μA/K = 10 mV/K = 2.98 V（室温时）

应用

  • 自动测试设备(ATE)
  • 半导体测试系统
  • 电路板测试系统
  • 仪器仪表和表征设备

    • 数据手册，Rev. B，3/08

    AD53509G
    单芯片、高性能驱动器/比较器有源负载
    AD53509 Functional Block Diagram
    添加至 myAnalog

    将产品添加到myAnalog 的现有项目或新项目中（接收通知）。

    创建新项目
    提问

    参考资料

    数据手册 1

    了解更多
    添加至 myAnalog

    Add media to the Resources section of myAnalog, to an existing project or to a new project.

    创建新项目

    最新评论

    需要发起讨论吗？ 没有关于 AD53509G的相关讨论？是否需要发起讨论？

    在EngineerZone®上发起讨论

    近期浏览