ATE(自動試験装置)

アナログ・デバイセズは今日のSoCテスター、DRAMテスターそしてフラッシュメモリ・テスターなどのアプリケーションに対する要求に応えるため、完全なATEシグナル・チェーン・ソリューションをお客様に提供しています。同時に今後の市場のニーズに応えるため、プロセスなどの技術開発にも力を注いでいます。

アナログ・デバイセズが提供する広範な製品群には、ピン・エレクトロニクス(ドライバ/コンパレータ/ロード)、PPMU(パーピン・パラメトリック計測ユニット)、多チャンネル・レベル設定用DAコンバータ、高精度ADコンバータ、そしてスイッチ・マルチプレクサやCMOSタイミング・バーニアなどがあります。

Automatic Test Equipment Solutions (英語版)の閲覧

製品セレクションテーブル

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ATE Overview

Part#
Results: 0
ConfigurationChannelsWatts Per Channel (W)VminVmaxReflection ClampsBandwidth -3dB (typ)PackagePrice* (1000 pcs.)
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PMU Overview

Part#
Results: 0
ChannelsPower Dissipation (typ)PMU Current Force/MeasureExtended Current RangeRange/Swing (V)InterfaceFeaturesPackagePrice* (1000 pcs.)
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ATE Level Setting DACs

Part#
Results: 0
# of DACsResolutionOutput RanagesVout (V p-p)minPackageConfig/Programming InterfATE Features
Default Sort is # DACs (Descending), then Resolution, Bits (Descending)
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Timing Generator and Formatter IC

Part#
Results: 0
Edge Refire Rate (ns)Max Sampling RateChannelsNumber of Edges per ChResolution Peak to Peak DNL (ps)Peak to Peak INL (ps)Overall Timing Accuracy Jitter (ps RMS)Average Power/ Edge Min Drive Pulse Width (nsMux Mode Supported
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