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特長
- Driver, comparator, and active load with inhibit function
- 250 MHz toggle rate
- Dynamic clamps
- Operating voltage range: −1.5 V to +6.5 V
- Output voltage swing: 200 mV to 8 V
- Four range adjustable slew rate
- True/complement data mode bit
- See Data Sheet for Additional Information
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The driver is a proprietary design that features three active modes: data high mode, data low mode, and term mode, as well as an inhibit state.
The driver has low leakage (<10 nA) in High-Z mode. The output voltage range is −1.5 V to +6.5 V to accommodate a wide variety of test devices.
The ADATE205 supports four programmable Tr/Tf times for applications where slower edge rates are required. The edge rate selection is done via two static digital CMOS select bits. The input data to the driver can be inverted using a single CMOS logic bit. This feature can be used for system calibration or applications where complement input data is needed.
Applications- Automatic test equipment
- Semiconductor test systems
- Board test systems
- Instrumentation and characterization equipment
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よく聞かれる質問（FAQ）
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ADATE205
資料
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製造中止品のデータシート
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製造中止品のデータシート
1
利用上の注意
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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
ソフトウェアおよび製品のエコシステム
| 製品モデル | 製品ライフサイクル | 詳細 |
|---|---|---|
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新規設計に推奨 |
全機能内蔵DCL、デュアル、600 MHz、PPMU／VHHドライブ機能／レベル設定用DAC／キャリブレーション・エンジン内蔵 |
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製造中 |
DCL、500MHz、デュアル、差動ドライブ／受信チャンネル、レベル設定DAC、パーピンPMUを集積 |
