製品概要
機能と利点
- ハイ・インピーダンス・モードと内蔵クランプを備える3レベル・ドライバ
- 高精度にトリミングされた出力抵抗
- 低リーク電流モード（10nA未満、typ）
- 電圧範囲：－2.0～＋6.0V
- 1.0ns（min）のパルス幅、1V終端
- ウィンド・コンパレータおよび差動コンパレータ
- 1GHzを越える入力等価帯域幅
- ±12mA（max）の電流出力能力
製品概要
ADATE302-02は、ATEアプリケーション向けとしてドライバ、コンパレータ、アクティブ・ロード（DCL）、パーピンPMU、DCレベルのピン・エレクトロニクス機能を実行する全機能内蔵型のシングルチップ・ソリューションです。最大13.5Vの電圧を生成する能力を備えたHVOUTドライバとVHHバッファも内蔵しています。
ドライバは、データ・ハイ・モード、データ・ロー・モード、終端モードの3つのアクティブ状態と1つの禁止状態を特長としています。禁止状態と内蔵されたダイナミック・クランプを組み合わせることにより、高速のアクティブ終端が容易に実行されます。幅広い各種のテスト・デバイスに対処するために、出力電圧は－2.0～＋6.0Vの範囲となっています。
ADATE302-02は、デュアルのシングルエンド・ドライブ／受信チャンネルまたはシングルの差動ドライブ／受信チャンネルとして使用できます。各チャンネルは、機能試験用の個別ピン対応の高速ウィンド・コンパレータ、並びにFVまたはFIおよびMVまたはMI機能を備えるパーピンPMUを特長としています。DCL機能に必要なすべてのDCレベルは、オンチップの14ビットDACによって生成されます。パーピンPMUは、高い精度を維持するためのオンチップ16ビットDACを特長とし、外付け部品数を最小限に抑えるために各種の抵抗を内蔵しています。
ADATE302-02はシリアル・バスを使用してすべての機能ブロックを設定し、デバイス温度をモニタするための温度センサを内蔵しています。
アプリケーション
- 自動試験装置（ATE）
- 半導体試験システム
- ボード試験システム
- 計測器および特性評価装置
製品カテゴリ
製品ライフサイクル
製造中
この製品ファミリーの1つ以上の型番が生産／供給中です。新規の設計に適していますが、より新しい代替製品を提供している場合があります。
評価キット (1)
参考資料
設計リソース
アナログ・デバイセズでは、最高レベルの品質と信頼性を備えた製品を提供することに最大の力を常に注いでいます。これを実現するため、製品およびプロセスの設計のあらゆる観点で品質と信頼性のチェックを行っています。そして、それは、製造工程においても同様です。アナログ・デバイセズは常に、出荷製品の「ゼロ・ディフェクト」を目指しています。詳細についてはアナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム/認定証をご覧ください。
| 製品番号 | 材料宣誓書（MD） | 信頼性データ | ピン/パッケージ図 | CADシンボル、フットプリント & 3Dモデル |
|---|---|---|---|---|
| ADATE302-02BBCZ | 材料宣誓書（MD） | 信頼性データ | 84-Ball CSPBGA (6mm x 6mm x 1.26mm) | |
| ADATE302-02BSVZ | 材料宣誓書（MD） | 信頼性データ | 100-Lead TQFP (14mm x 14mm w/ EP) | |
| ウェハ・ファブリケーション・データ |
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