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仪器仪表系统解决方案

仪器仪表系统解决方案融合精密信号链、高速数字化仪与数据采集、超低失真波形生成等技术,为新一代测试测量设备的发展提供有力支撑。通过融合预验证参考设计、评估硬件及量产级软件,ADI助力客户攻克从DC到多GHz频段内各种复杂的测量难题,同时缩短开发周期、降低设计风险与总拥有成本。

探索应用领域 仪器仪表系统解决方案

  • 数字化仪 right arrow
  • 阻抗测量和分析决方案 right arrow
  • 精密数据采集和信号生成 right arrow
  • 源表(SMU) right arrow
  • 矢量网络分析仪(VNA) right arrow
数字化仪

数字化仪

覆盖1 GSPS到10 GSPS

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阻抗测量和分析决方案

阻抗测量和分析决方案

DC至10 MHz

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精密数据采集和信号生成

精密数据采集和信号生成

从高分辨率精密数据采集,到低噪声、高线性度信号生成。

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源表(SMU)

源表(SMU)

数字控制式高压/大电流源表(SMU),可提供24位精度的精准电压/电流输出与测量。

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矢量网络分析仪(VNA)

矢量网络分析仪(VNA)

结构紧凑、可扩展、低功耗、高性能的多端口矢量网络分析仪(VNA)

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精密数据采集和信号生成

从高分辨率精密数据采集,到低噪声、高线性度信号生成。

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源表(SMU)

数字控制式高压/大电流源表(SMU),可提供24位精度的精准电压/电流输出与测量。

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矢量网络分析仪(VNA)

结构紧凑、可扩展、低功耗、高性能的多端口矢量网络分析仪(VNA)

面向新一代测试测量的精密仪器仪表系统解决方案

ADI公司凭借完整、可互操作的系统平台,在精密仪器仪表领域保持优势,产品覆盖精密前端、超低失真波形生成、10 GSPS数字化仪和低延迟硬件在环测试。我们与客户紧密合作,联合开发参考设计与系统套件,助力缩短开发周期、降低架构风险,并在智能边缘与实验室环境中,打造可持续的高性能仪器设备。

ADMX2001, Precision Impedance Analyzer Measurement Module
ADMX2001:精密阻抗分析仪测量模块 视频

ADMX2001是一款先进的LCR测量模块,在DC至10MHz范围内可实现超高精度。

ADMX1001/ADMX1002 Ultralow Distortion Sine Wave and High-Resolution Arbitrary Waveform Generator + Acquisition Module
超低失真波形发生器和采集模块 视频

ADI的ADMX1001和1002是微型化、高精度信号发生器,具备超低失真与超低噪声特性,是精密ADC及高保真音频系统测试的理想选择。

EVAL ADMX6001-EBZ DC-Coupled 10GSPS Digitizer Evaluation Board
EVAL ADMX6001-EBZ:直流耦合10GSPS数字化仪评估板 视频

直流耦合10GSPS数字化仪评估板

Low Latency Test and Measurement Kit – Hardware in the Loop
低延迟测试和测量套件 – 硬件在环(HiL) 视频

HiL开发套件采用了ADI公司最新的精密实时测量技术,在精密数字测量和信号生成系统中实现了更低的延迟。HiL系统的仿真效果越接近真实情况,被测器件的验证结果就越精确。