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概览

优势和特点

  • 外形尺寸最小的引脚兼容型 8 通道 DAC:
    • LTC2605:16 位
    • LTC2615:14 位
    • LTC2625:12 位
  • 在整个温度范围内保证单调
  • 400kHz I2C 接口
  • 2.7V 至 5.5V 宽电源范围
  • 低功率操作:每个 DAC 的电源电流为 250µA (在 3V)
  • 个别通道断电至 1µA (最大值)
  • DAC 之间的超低串扰 (<10mV)
  • 高轨至轨输出驱动 (±15mA,最小值)
  • 双缓冲数字输入
  • 27 个可选地址
  • LTC2605/LTC2615/LTC2625:上电复位至零标度
  • LTC2605-1/LTC2615-1/LTC2625-1:上电复位至中间标度
  • 纤巧型 16 引脚窄体 SSOP 封装

 

产品详情

LTC®2605/LTC2615/LTC2625 是 8 通道 16、14 和 12 位、2.7V 至 5.5V 轨至轨电压输出 DAC,采用 16 引脚窄体 SSOP 封装。它们具有内置高性能输出缓冲器并保证单调。

这些器件为 16 位和 14 位 DAC 设立了新的电路板密度基准点,并提升了单电源、多电压输出应用中的输出驱动、串扰和负载调节性能标准。

以上器件采用二线式 I2C 兼容型串行接口。LTC2605/LTC2615/ LTC2625 工作于标准模式 (最大时钟速率为 100kHz) 和快速模式 (最大时钟速率为 400kHz)。

LTC2605/LTC2615/LTC2625 内置一个上电复位电路。在上电期间,电压输出上升至比零标度高出不到 10mV;在上电之后,它们将保持于零标度,直到出现一个有效写操作和更新操作为止。上电复位电路把 LTC2605-1/LTC2615-1/LTC2625-1 复位至中间标度。电压输出保持在中间标度,直到出现一个有效写操作和更新操作为止。

 


应用

  • 移动通信
  • 过程控制和工业自动化
  • 仪表
  • 自动测试设备


产品生命周期 icon-recommended 量产

该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。

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工具及仿真模型

Linduino

Linduino是ADI公司的Arduino兼容系统,用于开发和分配面向集成电路的固件库和示例代码。每个支持Linduino的产品包括示例主程序(在LTSketchbook/产品型号文件夹中定义)和驱动程序代码(在LTSketchbook/库文件夹中定义)。

GitHub上的Linduino代码存储库以及有关如何使用代码的说明

购买Linduino

Linduino

精密DAC误差预算工具

精密DAC误差预算工具是一种Web应用程序,用于计算精密DAC信号链的直流精度。它可显示整个信号链中的静态误差状况,以快速评估设计利弊。可计算由基准电压源、运算放大器和精密DAC引起的直流误差。

Precision DAC Error Budget Tool

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设计资源

ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。

Part Number Material Declaration Reliability Data Pin/Package Drawing CAD Symbols, Footprints & 3D Models
LTC2605CGN#PBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605CGN#TRPBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605CGN-1#PBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605CGN-1#TRPBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605IGN#PBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605IGN#TRPBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605IGN-1#PBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
LTC2605IGN-1#TRPBF 材料声明 质量和可靠性 16-Lead SSOP (Narrow 0.15 Inch)
Wafer Fabrication Data R461 Reliability Data

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