ADGS1209

推荐新设计使用

SPI 接口、低 CON & QINJ、±15V/+12V、1.8V 逻辑控制、双 4:1 多路复用器

产品模型
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产品技术资料帮助

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产品详情

  • SPI 接口提供错误检测功能
  • 包括 CRC 错误检测、无效读/写地址错误检测和 SCLK 计数错误检测
  • 支持突发模式和菊链模式
  • 兼容行业标准 SPI 模式 0 和 SPI 模式 3 接口
  • 轮询调度模式可实现与并行接口兼容的开关时间
  • 四个通用数字输出可用于控制其他器件
  • 在整个信号范围内实现 <1 pC 的电荷注入
  • 1 pF 关闭电容
  • 模拟信号范围为 VSS 到 VDD
    • 适合 ±15 V 和 +12 V 的工作电压
  • 1.8 V 与 2.7 V ≤ VL ≤ 3.3 V 逻辑兼容
  • 24 引脚 LFCSP 封装
ADGS1209
SPI 接口、低 CON & QINJ、±15V/+12V、1.8V 逻辑控制、双 4:1 多路复用器
ADGS1209 Functional Block Diagram ADGS1209 Pin Configuration
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评估套件

eval board
EVAL-ADGS1208/ADGS1209

ADGS1208/ADGS1209 评估板

特性和优点

  • SPI 接口提供错误检测功能
    包括 CRC 错误检测、无效读/写地址检测和 SCLK 计数错误检测
  • 模拟电源电压
  • 双电源:±15 V
  • 单电源:12 V
  • PC 控制配合评估软件一起使用

产品详情

EVAL-ADGS1208SDZ/EVAL-ADGS1209SDZ 是用于 ADGS1208/ADGS1209 的评估板。ADGS1208/ADGS1209 是由串行外设接口 (SPI) 控制的低导通电容 (CON)、低电荷注入 (QINJ)、8:1/双 4:1 多路复用器。SPI 具备可靠的错误检测功能,包括循环冗余校验码 (CRC) 错误检测、无效读/写地址检测以及串行时钟 (SCLK) 计数错误检测。可以采用菊链模式将多个 ADGS1208/ADGS1209 器件连接在一起,以使用最少的数字线路实现多器件配置。ADGS1208/ADGS1209 也支持突发模式,从而缩短各 SPI 命令间隔的时间。

EVAL-ADGS1208SDZ/EVAL-ADGS1209SDZ 由通过 USB 端口连接至 PC 的 EVAL-SDP-CB1Z 系统演示平台 (SDP) 控制。ADGS1208 或 ADGS1209 位于评估板中央,提供螺丝接线端子以连接每个源极和漏极引脚。其中三个螺丝端子为器件供电,第四个螺丝端子为用户提供定义的数字逻辑供电电压(如需要)。数字逻辑供电电压也可以由 SDP 提供。

请参阅 ADGS1208/ADGS1209 数据手册(由 Analog Devices, Inc. 提供)以及用户指南 UG-1271。该评估板通过 SDP 板连接至 PC 的 USB 端口。用户可在 www.analog.com/SDP-B 上订购 EVAL-SDP-CB1Z 板(SDP-B 控制器板)。

EVAL-ADGS1208/ADGS1209
ADGS1208/ADGS1209 评估板
EVAL-ADGS1208SDZ Image EVAL-ADGS1209SDZ Image

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