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概览

优势和特点

  • 采集时间:3.0µs(至±0.01%,最大值)
  • 低下降速率:1.0mV/ms(最大值)
  • 采样保持失调步长:3mV(最大值)
  • 孔径抖动:0.5ns(典型值)
  • 内部保持电容
  • 内部应用电阻
  • 工作电压:±12V或±15

产品详情

AD585是一款完整的单芯片采样保持电路,含有一个高性能运算放大器,与一个泄漏极低的模拟开关和一个FET输入积分放大器相串联。同时提供一个内部保持电容和匹配应用电阻,具备高精度和应用灵活性。

AD585性能出色,是高速10位和12位数据采集系统的理想选择,在这类应用中,快速的采集时间、低采样保持失调和低下降至关重要。利用片内保持电容,AD585可以在最多3 µs的时间内采集精度达±0.01%的信号,并以最大3 mV的采样保持失调和不到1 mV/ms的下降速率保持该信号。如果要求更低的下降速率,则可以添加一个较大的外部保持电容。

AD585所用高速模拟开关的孔径抖动为0.5 ns,能以12位精度对频率最高为78 kHz的满量程(20 V峰峰值)信号进行采样。

AD585可以支持任何用户定义的反馈网络,为采样模式提供任何所需增益。片内精密薄膜电阻可用来提供+1、-1或+2的增益。保持模式下的输出阻抗很低,足以维持精确的输出信号,即使在驱动由逐次逼近ADC带来的动态负载时也无问题。但输出采用了意外短路保护机制。

保持命令的控制信号可以为高电平有效或低电平有效。只要提供合适的基准电平,差分保持信号即可兼容所有逻辑系列。提供一个片内TTL基准电平以确保TTL兼容性。

产品生命周期 icon-recommended 量产

该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。

设计资源

ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。

Part Number Material Declaration Reliability Data Pin/Package Drawing CAD Symbols, Footprints & 3D Models
AD585-703M 材料声明 质量和可靠性 14 ld Flat Pack
AD585-713M 材料声明 质量和可靠性 14 ld Flat Pack
Wafer Fabrication Data

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