AD524
不推荐用于新设计精密仪表放大器
- 产品模型
- 14
产品详情
- 低噪声：0.3 µV（峰峰值，0.1 Hz至10 Hz）
- 低非线性度：0.003% (G = 1)
- 高共模抑制比(CMRR)：120 dB (G = 1000)
- 低失调电压：50 µV
- 低失调电压漂移：0.5 µV/°C
- 增益带宽积：25 MHz
- 依据EIA-481A标准提供卷带和卷盘形式
- 引脚可编程增益：1、10、100、1000
- 上电/断电输入保护
- 无需外部器件
- 内部补偿
- 提供符合MIL-STD-883B标准的版本以及裸片
- 提供16引脚陶瓷DIP、SOIC和20引脚无引线片式载体三种封装
- 还可提供标准军用引脚分布
AD524是一款精密单芯片仪表放大器，针对要求在最差工作条件下提供高精度的数据采集应用而设计。高线性度、高共模抑制、低失调电压漂移与低噪声等特性的出色组合，使该器件适合用于许多数据采集系统中。AD524的输出失调电压漂移小于25 µV/°C，输入失调电压漂移小于0.5 µV/°C，单位增益时的共模抑制(CMR)高于90 dB（G = 1000时为120 dB），最大非线性度为0.003% (G = 1)。除了出色的直流特性之外，AD524还具有25 MHz的增益带宽积(G = 1000)。为了适应高速数据采集系统，该器件具有5 V/µs的输出压摆率和15 µs的0.01%建立时间（G = 1至100）。
作为一款完整的放大器，对于固定增益1、10、100和1000，AD524不需要任何外部器件。对于1与1000之间的其它增益设置，该器件只需要一个外部电阻。AD524的输入端受到充分保护，不受上电和断电时的故障影响。AD524 IC仪表放大器提供四种不同精度和工作温度范围的产品。经济型“A”级、低漂移“B”级和更低漂移、更高线性度“C”级的额定工作温度范围为-25°C至+85°C。“S”级保证器件在-55°C至+125°C扩展温度范围内具有额定性能。这些器件提供16引脚陶瓷DIP、SOIC和20引脚无铅片式载体三种封装。
产品聚焦
- AD524具有保证低失调电压、低失调电压漂移和低噪声等特性，适合精密高增益应用。
- AD524在功能上是完整的，引脚可编程增益为1、10、100和1000，通过一个电阻可设置任何增益。
- 针对极高精度应用，以及为使增益范围调整应用中的失调电压变化较小，该器件提供了输入和输出失调零点校准引脚。
- AD524的输入端受到保护，不受上电和断电时的故障影响。
- AD524提供出色的动态性能：增益带宽积为25 MHz，全功率响应为75 kHz，0.01%建立时间为15 μs（20 V步进，G = 100）。
参考资料
数据手册 2
应用笔记 8
技术文章 4
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| 5962-8853901EA | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524AD | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524ADZ | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524ARZ-16 | 16-Lead SOIC Wide | ||
| AD524ARZ-16-REEL7 | 16-Lead SOIC Wide | ||
| AD524BD | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524BDZ | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524BE | 20-Lead LCC | ||
| AD524CD | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524CDZ | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524SCHIPS | none available | ||
| AD524SD | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524SD/883B | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
| AD524SE/883B | 20-Lead LCC |
| 产品型号 | 产品生命周期 | PCN |
|---|---|---|
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4月 9, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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| 5962-8853901EA | ||
| AD524SD/883B | ||
| AD524SE/883B | ||
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6月 6, 2012 - 12_0066 Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite |
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| 5962-8853901EA | ||
| AD524AD | ||
| AD524SE/883B | ||
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11月 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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| 5962-8853901EA | ||
| AD524AD | ||
| AD524ADZ | ||
| AD524BD | ||
| AD524BDZ | ||
| AD524BE | ||
| AD524CD | ||
| AD524CDZ | ||
| AD524SD | ||
| AD524SD/883B | ||
| AD524SE/883B | ||
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11月 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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| 5962-8853901EA | ||
| AD524AD | ||
| AD524ADZ | ||
| AD524ARZ-16 | ||
| AD524ARZ-16-REEL7 | ||
| AD524BD | ||
| AD524BDZ | ||
| AD524BE | ||
| AD524CD | ||
| AD524CDZ | ||
| AD524SD | ||
| AD524SD/883B | ||
| AD524SE/883B | ||
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8月 4, 2010 - 10_0117 Halogen Free Material Change for SOIC_W Products at Carsem |
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| AD524ARZ-16 | ||
| AD524ARZ-16-REEL7 | ||
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