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优势和特点
产品详情

优势和特点

SPI 接口提供错误检测功能
包括 CRC 错误检测、无效读/写地址错误检测和 SCLK 计数错误检测
支持突发模式和菊链模式
兼容行业标准 SPI 模式 0 和 SPI 模式 3 接口
轮询调度模式可实现与并行接口兼容的开关时间
四个通用数字输出可用于控制其他器件
在整个信号范围内实现 <1 pC 的电荷注入
1 pF 关闭电容
模拟信号范围为 V_SS 到 V_DD
- 完全适合 ±15 V 和 +12 V 的工作电压
1.8 V 与 2.7 V ≤ VL ≤ 3.3 V 逻辑兼容
24 引脚 LFCSP 封装

产品详情

ADGS1208/ADGS1209 分别是包含八个单通道和四个差分通道的模拟多路复用器。开关由一个串行外设接口 (SPI) 控制。SPI 接口具备可靠的错误检测功能，例如循环冗余校验码 (CRC) 错误检测、无效读/写地址检测以及 SCLK 计数错误检测。

通过菊链模式可将多个 ADGS1208/ADGS1209 器件连接在一起。菊链模式可用极少的数字线路实现多器件配置。ADGS1208/ADGS1209 也可以在突发模式下运行，从而缩短各 SPI 命令间隔的时间。

iCMOS^® 构造可确保超低功耗，使器件非常适用于便携式和电池供电仪器。

在接通时，各个开关在两个方向上具有同等的传导性能，并且其输入信号范围可扩展至电源电压的水平。在断开状态下，达到电源电压水平的信号电平将被阻止。

这些多路复用器具有超低导通电容 (CON) 和极低的电荷注入 (QINJ) 特点，使其成为需要低干扰和快速建立的数据采集和采样保持应用的理想解决方案。

产品亮点

SPI 接口无需并行转换和逻辑迹线，可以减少 GPIO 通道计数。
在使用多个器件时，菊链模式不必使用额外的逻辑迹线。
CRC 错误检测、无效读/写地址检测和 SCLK 计数错误检测可确保提供可靠的数字接口。
CRC 和错误检测功能允许在安全关键系统中使用 ADGS1208/ADGS1209。

应用

音频和视频路由
自动测试设备
数据采集系统
电池供电系统
采样保持系统
通信系统

产品分类

开关和多路复用器
- 5V至22V双电源

领域

工业自动化技术 (IAT)
- 可编程逻辑控制器 (PLC) 和分布式控制系统 (DCS)

产品生命周期推荐新设计使用

本产品已上市。数据手册包含所有最终性能规格和工作条件。ADI公司推荐新设计使用这些产品。

评估套件 (1)

EVAL-ADGS1208/ADGS1209

ADGS1208/ADGS1209 评估板

EVAL-ADGS1208/ADGS1209

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EVAL-ADGS1208SDZ/EVAL-ADGS1209SDZ 是用于 ADGS1208/ADGS1209 的评估板。ADGS1208/ADGS1209 是由串行外设接口 (SPI) 控制的低导通电容 (CON)、低电荷注入 (QINJ)、8:1/双 4:1 多路复用器。SPI 具备可靠的错误检测功能，包括循环冗余校验码 (CRC) 错误检测、无效读/写地址检测以及串行时钟 (SCLK) 计数错误检测。可以采用菊链模式将多个 ADGS1208/ADGS1209 器件连接在一起，以使用最少的数字线路实现多器件配置。ADGS1208/ADGS1209 也支持突发模式，从而缩短各 SPI 命令间隔的时间。

EVAL-ADGS1208SDZ/EVAL-ADGS1209SDZ 由通过 USB 端口连接至 PC 的 EVAL-SDP-CB1Z 系统演示平台 (SDP) 控制。ADGS1208 或 ADGS1209 位于评估板中央，提供螺丝接线端子以连接每个源极和漏极引脚。其中三个螺丝端子为器件供电，第四个螺丝端子为用户提供定义的数字逻辑供电电压（如需要）。数字逻辑供电电压也可以由 SDP 提供。

请参阅 ADGS1208/ADGS1209 数据手册（由 Analog Devices, Inc. 提供）以及用户指南 UG-1271。该评估板通过 SDP 板连接至 PC 的 USB 端口。用户可在 www.analog.com/SDP-B 上订购 EVAL-SDP-CB1Z 板（SDP-B 控制器板）。