Quantic X-Microwave

Analog Devices RF and microwave components are available as drop-in X-MWblocks®
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ADGM1004

新規設計に推奨

MEMSスイッチ、単極4投、0 Hz/DC ～ 13 GHz、2.5kV HBM ESD耐性、ドライバ内蔵

データシート (Rev. E)
製品セレクション・テーブル
利用上の注意

本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。

なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.J）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。
Viewing:

製品情報

  • 下は0 Hz（dc）まで完全に動作可能
    • オン抵抗: 2.9 Ω （typ）
    • オフ時リーク: 0.5nV（max）
  • −3 dB 周波数帯域幅
    • RF1、 RF4: 10.8 GHz (typ)
    • RF2、 RF3: 13 GHz (typ)
  • RF 性能特性
    • 挿入損失: 0.45 dB (typ) @ 2.5 GHz
    • アイソレーション: 24 dB (typ) @ 2.5 GHz
    • IP3: 67 dBm (typ)
    • RF入力電力： 32dBm (max)
  • 動作寿命: 10億サイクル（min）
    • ハーメチック・シールされたスイッチ接触部
    • オン・スイッチング時間: 75μs (max)
  • 静電気放電(ESD) 人体モデル（HBM）定格
    • RF1 ～ RF4とRFCピン: 5 kV
    • 他の全てのピン: 2.5 kV
  • 内蔵ドライバにより外部ドライバは不要
    • 電源電圧: 3.0 V ～ 3.6 V
    • CMOS/LVTTL互換
    • パラレルおよびSPIインターフェース
    • 別々に制御可能なスイッチ
  • スイッチは無電源時には開放状態
  • 全RFx端子に対しフロート・ノードを防止する必要有り
  • 5 mm × 4 mm × 1.45 mmの24ピンLFCSPを採用
  • 動作温度範囲: 0°C 〜 85°C

ADGM1004は広帯域、単極4投(SP4T)のスイッチで、 アナログ・デバイセズ社のマイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム(MEMS)スイッチ技術を使用して製造されました。この技術は小型、広い無線周波数(RF)帯域、高い直線性、低挿入損失で0 Hz/dc～13 Hzまで動作可能なスイッチを可能にするので、広範囲のRF／精密装置でのスイッチングの要求に対し理想的なソルーションとなります。

内蔵のドライバ・チップは、パラレル・インターフェースおよびシリアル・ペリフェラル・インターフェース（SPI）によって制御可能なスイッチを静電駆動するのに必要な高電圧を生成します。4つのスイッチはすべて別々に制御可能です。

この製品は24ピン、5 mm × 4 mm × 1.45 mm リード・フレーム・チップ・スケール・パッケージ(LFCSP)に収納されています。

ADGM1004の最適な動作を確保するため、使用上の注意事項のセクションに従ってください。

ADGM1004のオン抵抗(RON)性能は、デバイスごとのばらつき、チャンネルごとのばらつき、サイクル動作、ターンオン後のセトリング・タイム、バイアス電圧、温度変化の影響を受けます。

このデータシートを通して、IN1/SDIのような複数機能をもつピンは、ピン名をフルで呼称する場合と、ピンの1機能（例えば、SDIの機能のみに関連するときはSDI）で呼称する場合があることに注意してください。

 

アプリケーション

  • リレーの置き換え
  • 自動テスト装置(ATE): RF/デジタル/ミックスド・シグナル
  • ベンチテスト基板: RF/デジタル/ミックスド・シグナル
  • RFの試験用計測装置
  • リコンフィギュラブル・フィルタ/アッテネータ
  • 高性能RFスイッチ

ADGM1004
MEMSスイッチ、単極4投、0 Hz/DC ～ 13 GHz、2.5kV HBM ESD耐性、ドライバ内蔵
ADGM1004 Functional Block Diagram ADGM1004 Pin Configuration
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ソフトウェア・リソース

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ツールおよびシミュレーション

Sパラメータ 1

評価用キット

eval board
schematic 1
schematic 2
schematic 3
schematic 4
EVAL-ADGM1004SDZ

ADGM1004SDZ評価用ボード

今すぐ購入 詳細を表示

機能と利点

  • 単電源電圧3.3V
  • 広い周波数範囲
  • RF信号用SMAコネクタ
  • スイッチ制御信号用SMBコネクタ
  • アナライザ・キャリブレーション用のオンボード・キャリブレーション伝送ライン

製品詳細

EVAL-ADGM1004SDZは、ADGM1004の広帯域、単極4投（SP4T）、マイクロマシン・システム（MEMS）スイッチと、小型の24ピン、5mm × 4mm × 1.45mm、リード・フレーム・チップ・スケール・パッケージ（LFCSP）と一体になった制御チップを評価します。SP4Tスイッチは、最適な帯域幅性能、電力処理機能、無線周波数アプリケーション向けの直線性を備えたアナログ・デバイセズのMEMSスイッチ技術を利用しています。制御チップは、MEMSスイッチに必要な高電圧信号を生成し、ユーザが柔軟な相補型金属酸化膜半導体（CMOS）、低電圧トランジスタtoトランジスタ・ロジック（LVTTL）互換、パラレル・インターフェースに加えて、シリアル・ペリフェラル・インターフェース（SPI）を通じて操作を制御できるようにします。複数のADGM1004デバイスをデイジーチェーンで構成できるため、最小限のデジタル・ラインで複数のデバイスを構成できます。

SPIインターフェースの場合、EVAL-ADGM1004SDZはシステム・デモンストレーション・プラットフォーム（SDP）ボードを介してPCのUSBポートに接続します。EVAL-SDP-CB1Z（SDP-B）コントローラー・ボードは、使用が許容されており、www.analog.com/SDP-Bでご注文いただけます。

EVAL-ADGM1004SDZには、RFおよび制御信号用のコネクタと、ユーザがスイッチの操作を制御してADGM1004の性能を評価できるリンクが装着されています。

ADGM1004の全仕様については、ADGM1004のデータシートを参照してください。EVAL-ADGM1004SDZを使用する際は、データシートと併せてこのユーザ・ガイドを参照してください。

eval board
schematic 5
schematic 6
schematic 7
EVAL-24LGA54EBZ

スイッチおよびマルチプレクサ・ポートフォリオの24ピンLGAデバイスの評価用ボード

今すぐ購入 詳細を表示

機能と利点

  • 24ピン、5mm × 4mm LGA評価用ボード
  • メイン・デバイスのソケットを簡単に変更可能
  • 信号入出力用のSMAコネクタ
  • Arduinoシールドのサポートを内蔵

製品詳細

EVAL-24LGA54EBZでは、別売のスイッチおよびマルチプレクサ・ポートフォリオの24ピン・ランド・グリッド・アレイ（LGA）パッケージ・デバイスを簡単に評価できます。EVAL-24LGA54EBZにはソケットが付属しており、ハンダ付け処理なしで24ピンLGAデバイスを評価用ボードに固定できます。

ユーザ・ガイドの図1に、EVAL-24LGA54EBZが示されています。24ピンLGAデバイスは、評価用ボードの中央ソケットに簡単に挿入できます。この評価用ボードは、様々なスイッチ構成を柔軟にテストできるように設計されています。各デバイス・ピンはヘッダー（K1～K17）に接続され、ユーザは必要に応じて、信号をルーティングしたり、ピンをグラウンドに接続したり、ピンを設定したりできます。K7～K13では、一般的な入出力（I/O）またはグラウンド接続がサポートされます。EVAL-24LGA54EBZは、K14～K17を使用する内部ロジックと、K1～K4を使用するシリアル・ペリフェラル・インターフェース（SPI）の、2つの制御モードをサポートしています。制御モードはK5で選択され、GNDに接続すると内部制御が有効になり、VDDに接続するとSPIが有効になります。EVAL-24LGA54EBZには、Subminiature Version A（SMA）コネクタ（J1～J11）が搭載されています。このコネクタはデバイス・ピンに直接接続され、信号アクセスに使用されるため、ユーザはテスト中に制御信号を簡単に印加または監視できます。

テスト対象デバイス（DUT）の詳細な仕様は、対応する製品のデータシートに記載されています。EVAL-24LGA54EBZを使用する際は、EVAL-24LGA54EBZのユーザ・ガイドと併せて製品データシートを参照してください。
EVAL-ADGM1004SDZ
ADGM1004SDZ評価用ボード
ADGM1004SDZ Evaluation Board ADGM1004SDZ Evaluation Board ADGM1004SDZ Evaluation Board EVAL-ADGM1004SDZ Image
EVAL-24LGA54EBZ
スイッチおよびマルチプレクサ・ポートフォリオの24ピンLGAデバイスの評価用ボード
EVAL 24LGA54EBZ Board Photo Angle View EVAL 24LGA54EBZ Board Photo Top View EVAL 24LGA54EBZ Board Photo Bottom View

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