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オペアンプ、高精度、16 MHz、CBFET

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製品モデル 11
1Ku当たりの価格 最低価格:$7.74
特長
  • 多くのアプリケーションでのハイブリッド・アンプに置き換わるデバイス
    AC 性能
  • セトリング時間(0.01 % まで): 350 ns 以内
  • スルー・レート: 100 V/µs
  • 最小ユニティ・ゲイン帯域幅: 12.8 MHz
  • フル・パワー帯域幅: 1.75 MHz(20 V p-p 時)
    DC 性能
  • 最大入力オフセット電圧: 0.25 mV
  • 最大オフセット電圧ドリフト: 5 µV/ºC
  • 入力バイアス電流: 0.5 nA
  • 最小オープンループ・ゲイン: 250 V/mV
  • 最大電圧ノイズ: 4 µV p-p(0.1 Hz ~ 10 Hz)
  • 最小 CMRR: 94 dB
  • プラスチック・ミニ DIP、ハーメチック CERDIP、および SOIC パッケージを採用。
    また、EIA-481A 規格に準拠したテープ & リールを採用
製品概要
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AD845 は、高速、高精度、N チャンネル JFET 入力、モノリシックのオペアンプです。このデバイスは、アナログ・デバイセズの相補型バイポーラ(CB)プロセスを使用して製造されています。高度なレーザ・ウェーハ・トリミング技術により、超低入力オフセット電圧と超低オフセット電圧ドリフトの性能を実現します。この精度に加えて、(100 pF と 500 Ω の並列負荷を駆動するときに)100 V/µs のスルー・レート、16 MHz の安定したユニティ・ゲイン帯域幅、および 350 ns のセトリング時間(0.01 %まで)を実現するので、どのような FET 入力 IC アンプも太刀打ちできない特長を備えていることがわかります。AD845 は、BiFET または FET 入力のハイブリッド・アンプを使用する多くの既存設計と、場合によっては、バイポーラ入力オペアンプを使用する多くの既存設計をアップグレードするために、容易に使用することができます。

AD845 は、アクティブ・フィルタ、高速積分器、フォト・ダイオード・プリアンプ、サンプル&ホールド・アンプ、ログ・アンプ、および A/D コンバータや D/A コンバータのバッファリングなどのアプリケーションでの使用に最適です。最大入力オフセット電圧が 250 µV なので、多くのアプリケーションでオフセットをゼロ調整する必要がありません。±10 V の入力電圧範囲で 110 dB の同相ノイズ除去比を実現していることは、JFET 入力の高速オペアンプとして非常に優れた性能を備えていることを示しています。このことと 250 V/mV の最小オープンループ・ゲインにより、ユニティ・ゲイン・バッファ回路内でも 12 ビットの性能を確実に達成することができます。

AD845 は、V+ に対するオフセット・ゼロ調整ピンを除いて標準のオペアンプのピン配列に準拠しています。AD845J および AD845K グレードは、0 ~ +70 ºC の商用温度範囲で動作が仕様規定されています。AD845A および AD845B デバイスは、–40 ºC ~ +85 ºC の工業用温度範囲で動作が仕様規定されています。AD845S は、–55 ºC ~ 125 ºC の全ミリタリ温度範囲で動作が仕様規定されています。工業用およびミリタリの両バージョンは、8 ピンの CERDIP パッケージを採用しています。商用バージョンは、8 ピンのプラスチック・ミニ DIP パッケージおよび 16 ピンの SOIC パッケージを採用しています。また、「J」および「S」グレードのチップも提供されています。

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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

ドキュメント

アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン/パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
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モデルでフィルタ

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製品モデル

製品ライフサイクル

PCN

4 9, 2018

- 16_0026

Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices

11 7, 2012

- 12_0199

Qualification of New Conductive Silver-Filled Glass Die Attach Adhesive for Cerdip and Ceramic Flatpack (Cerpack) Packages.

6 6, 2012

- 12_0066

Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite

11 9, 2011

- 11_0050

Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines

5962-8964501PA

AD845AQ

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AD845SQ

AD845SQ/883B

11 9, 2011

- 11_0182

Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines

5962-8964501PA

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AD845SQ/883B

8 19, 2009

- 07_0024

Package Material Changes for SOT23, MiniSO, MQFP, PDIP, PLCC, SOIC (narrow and wide body), SSOP, TSSOP and TSSOP exposed pad

8 4, 2010

- 10_0117

Halogen Free Material Change for SOIC_W Products at Carsem

AD845JRZ-16

製造中

AD845JRZ-16-REEL

製造中

AD845JRZ-16-REEL7

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ソフトウェアおよび製品のエコシステム

ツールおよびシミュレーション 5

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