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12-Bit Ultrahigh Speed Monolithic D/A Converter

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製品モデル 4
1Ku当たりの価格
価格は未定
機能
  • Ultrahigh Speed: Current Settling to 1 LSB in 35 ns
  • High Stability Buried Zener Reference on Chip
  • Monotonicity Guaranteed Over Temperature
  • 10.24 mA Full-Scale Output Suitable for Video Applications
  • Integral and Differential Linearity Guaranteed Over Temperature
  • 0.3" “Skinny DIP” Packaging
  • Variable Threshold Allows TTL and CMOS Interface
  • MIL-STD-883 Compliant Versions Available
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The AD568 is an ultrahigh-speed, 12-bit digital-to-analog converter (DAC) settling to 0.025% in 35 ns. The monolithic device is fabricated using Analog Devices' Complementary Bipolar (CB) Process. This is a proprietary process featuring high-speed NPN and PNP devices on the same chip without the use of dielectric isolation or multichip hybrid techniques. The high speed of the AD568 is maintained by keeping impedance levels low enough to minimize the effects of parasitic circuit capacitances.

The DAC consists of 16 current sources configured to deliver a 10.24 mA full-scale current. Multiple matched current sources and thin-film ladder techniques are combined to produce bit weighting. The DAC's output is a 10.24 mA full scale (FS) for current output applications or a 1.024 V FS unbuffered voltage output. Additionally, a 10.24 V FS buffered output may be generated using an onboard 1 k(ohm) span resistor with an external op amp. Bipolar ranges are accomplished by pin strapping.

Laser wafer trimming insures full 12-bit linearity. All grades of the AD568 are guaranteed monotonic over their full operating temperature range. Furthermore, the output resistance of the DAC is trimmed to 100(ohm) =/-1.0%. The gain temperature coefficient of the voltage output is 30 ppm/°C max (K).

The AD568 is available in three performance grades. The AD568JQ and KQ are available in 24-pin cerdip (0.3") packages and are specified for operation from 0°C to +70°C. The AD568SQ features operation from -55°C to +125°C and is also packaged in the hermetic 0.3" cerdip.

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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

ドキュメント

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アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン/パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
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製品ライフサイクル

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4 9, 2018

- 16_0026

Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices

5962-8980801LA

製造中止

AD568SQ/883B

製造中止

11 7, 2012

- 12_0199

Qualification of New Conductive Silver-Filled Glass Die Attach Adhesive for Cerdip and Ceramic Flatpack (Cerpack) Packages.

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AD568KQ

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AD568SQ

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AD568SQ/883B

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6 6, 2012

- 12_0066

Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite

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11 9, 2011

- 11_0050

Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines

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11 9, 2011

- 11_0182

Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines

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- 20_0037

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