ADI基于飞行时间的三维物体测量（3D-ToF）技术

0001-01-01

ADI 3D-ToF技术基于工业CMOS成像以及先进的深度计算技术，该系统使用纳秒级的高功率光脉冲从感兴趣的照度场景中捕获相关的深度信息，结合精确的图像拼接算法，可以通过移动系统对大型不均匀物体进行准确的尺寸标注，从而提高操作效率并减少错误。

ADI基于飞行时间的三维物体测量（3D-ToF）技术

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ADI 3D-ToF技术基于工业CMOS成像以及先进的深度计算技术，该系统使用纳秒级的高功率光脉冲从感兴趣的照度场景中捕获相关的深度信息，结合精确的图像拼接算法，可以通过移动系统对大型不均匀物体进行准确的尺寸标注，从而提高操作效率并减少错误。
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