AD570
不推荐用于新设计完整8位逐次逼近型模数转换器
- 产品模型
- 4
产品详情
- 配备基准电压源和时钟的完整模数转换器
- 快速逐次逼近转换时间: 25 µs
- 数字多路复用:三态输出
- 18引脚陶瓷DIP封装
- 整个温度范围内无失码
0°C至+70°C:AD570J
–55°C至+125°C:AD570S - 低成本单芯片结构
AD570是一款单芯片8位逐次逼近型ADC,由DAC、基准电压源、时钟、比较器、逐次逼近寄存器和输出缓冲器组成。无需外部器件,执行8位全精度转换的时间为25 µs。
AD570采用当今先进的集成电路设计和处理技术。它在SAR电路的制造中使用了I2L(集成注入逻辑)处理,在晶圆阶段对高稳定性SiCr薄膜电阻梯形网络进行激光调整(LWT),并且集成了温度补偿型表面下齐纳基准电压源,从而确保以低成本实现8位全精度。
AD570的工作电压范围为+5 V至-15 V,支持外部可选的0 V至+10 V单极性模拟输入或±5 V双极性模拟输入。当BLANK和CONVERT输入变为低电平时,三态输出进入高阻态,转换开始。转换完成时,DATA READY线变为低电平,数据出现在输出端。将BLANK和CONVERT输入拉高会使输出进入三态,让器件为下一次转换做好准备。AD570执行真8位、无失码转换的时间约为25 µs。
AD570分为两种等级:AD570J的额定温度范围为0°C至+70°C,AD570S为-55°C至+125°C。在各自的温度范围内,两种等级均保证8位全精度且无失码。
产品聚焦
- AD570是一款完整的8位ADC。无需外部元件便可执行转换。无需外部调整便可实现± 0.8%(8位的2 LSB)的满量程校准精度。
- AD570是一款单芯片器件,并采用先进的IC处理技术。因此,这是一款真正的精密元件,具有单芯片结构固有的稳定性和低成本特性。
- 通过将单个引脚接地或保持开路,AD570接受单极性(0 V至+10 V)或双极性(–5 V至+5 V)模拟输入。
- 该器件提供8位真精度,并且在整个工作温度范围内无失码。
- 保证工作电源电压为–15 V和+5 V。该器件还可采用–12 V电源供电。
- AD570S还提供按照MIL-STD-883C Class B标准加工的产品。如需AD570SD/883B的军用数据手册,请参考ADI公司的军用产品数据手册。
参考资料
数据手册 1
应用笔记 2
技术文章 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
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5962-8680201VA | 18-Lead Side-Brazed CerDIP | ||
AD570JD | 18-Lead Side-Brazed CerDIP | ||
AD570SD | 18-Lead Side-Brazed CerDIP | ||
AD570SD/883B | 18-Lead Side-Brazed CerDIP |
产品型号 | 产品生命周期 | PCN |
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未找到匹配项目 | ||
4月 9, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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5962-8680201VA | ||
AD570SD/883B | ||
6月 6, 2012 - 12_0066 Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite |
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5962-8680201VA | ||
AD570SD/883B | ||
4月 26, 2012 - 12_0004 AD571/AD570 Conversion from 100mm Bipolar Process to 150mm Bipolar process |
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5962-8680201VA | ||
AD570JD | ||
AD570SD | ||
AD570SD/883B | ||
11月 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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5962-8680201VA | ||
AD570JD | ||
AD570SD | ||
AD570SD/883B | ||
11月 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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AD570JD | ||
AD570SD | ||
AD570SD/883B | ||
9月 5, 2012 - 12_0066 Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite |
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AD570JD |
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