ADG1206

製造中

マルチプレクサ、16 チャンネル、低容量、±15 V/+12 V、iCMOS

データシート (Rev. C) 製品セレクション・テーブル
利用上の注意

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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.J）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

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製品情報

  • 信号範囲全体の電荷注入: <1pC
  • オフ時容量: 1.5pF
  • 電源範囲: 33V
  • オン抵抗値: 120Ω
  • ±15V/+12Vの電源に対して仕様を完全に規定
  • 3Vロジック互換入力
  • レールtoレール動作
  • ブレーク・ビフォア・メイクのスイッチング動作
  • 28ピンTSSOPおよび5mm×5mmの32ピンLFCSP

ADG1206とADG1207は、それぞれ16個のシングル・チャンネル入力と8チャンネルの差動入力で構成されるモノリシックのiCMOS®アナログ・マルチプレクサです。ADG1206はA0、A1、A2、A3の4ビットのバイナリ・アドレス・ラインによって指定される1つのコモン出力に16個の入力のうち1つをスイッチします。ADG1207は、A0とA1、A2の3ビットのバイナリ・アドレス・ラインによって指定される1つのコモン差動出力に8個の差動入力のうち1つをスイッチします。この各デバイスに用意されているEN入力を使用して、デバイスをイネーブルまたはディスエーブルに設定することも可能です。ディスエーブル時には、全チャンネルがオフにスイッチされます。オン時には各チャンネルは双方向に等しく良好に導通し、入力範囲は電源電圧まであります。 

iCMOS（工業用CMOS）モジュラー製造プロセスは、高電圧CMOS（相補型金属酸化膜半導体）技術とバイポーラ技術の両方を組み合わせて実現されたプロセスです。このプロセス技術の採用によって、前世代の高電圧IC製品では実現が不可能であった小型フットプリントで33V動作を実現する能力を備えた広範囲に及ぶ高性能アナログICの開発が可能になっています。従来方式のCMOSプロセスで製造されたアナログICとは異なり、iCMOSデバイスは高い電源電圧による動作が可能であり、これと同時に性能の向上、消費電力の大幅な低減、パッケージ・サイズの小型化を実現します。 

これらのマルチプレクサは、容量と電荷注入量が非常に低く抑えられているので、低いグリッチと高速セトリングが要求されるデータ・アクイジションおよびサンプル＆ホールドのアプリケーションに最適なソリューションです。デバイスの信号範囲全体にわたり電荷注入が最小になっています。さらに、iCMOS構造の採用によって、消費電力が非常に低く抑えられるため、携帯型およびバッテリ駆動の計測機器にも最適です。 

アプリケーション
  • オーディオおよびビデオのルーティング
  • 自動テスト装置
  • データ・アクイジション・システム
  • バッテリ駆動のシステム
  • サンプル＆ホールド・システム
  • 通信システム
ADG1206

マルチプレクサ、16 チャンネル、低容量、±15 V/+12 V、iCMOS

ADG1206-fbl ADG1206 Pin Configuration ADG1206 Pin Configuration
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ツールおよびシミュレーション

LTspice

下記製品はLTspiceで使用することが出来ます。:

  • ADG1206
  • ADG1206L
LTspice

LTspice®は、無料で提供される強力で高速な回路シミュレータと回路図入力、波形ビューワに改善を加え、アナログ回路のシミュレーションを容易にするためのモデルを搭載しています。

 

評価用キット

eval board
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EVAL-ADMX1001

完全差動入力アクイジション・チャンネルを備えた超低歪み信号発生器測定モジュール

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機能と利点

  • 超低歪み、高分解能ソース
    • DC、50Hz～40kHzの周波数範囲
    • 独自のデジタル・プリディストーション（DPD）アルゴリズム
    • THD：−130dBc THD（1kHz時の代表値）
    • オンボード・パターン・メモリを用いた任意波形発生（AWG）
    • 差動（バランス）出力：最大3.5VRMS
    • 保存された複数の波形間の高速パターン切り替え
  • 完全差動入力アクイジション・チャンネル
  • スモール・フォーム・ファクタ（60mm × 40mm）
  • 低消費電力：1W（代表値、自己消費電力）
  • テストおよび測定システムに統合するためのSPIインターフェース

製品詳細

ADMX1001は、アクイジション・チャンネルを備えた超低歪み正弦波および高分解能任意波形の発生器です。この高性能モジュールは、独自のデジタル・プリディストーション・アルゴリズムの実例となるものであり、信号歪みを、高性能D/Aコンバータ（DAC）とアンプだけで達成できるレベルよりも低減します。その差動出力は、高性能A/Dコンバータ（ADC）、オーディオ・コーデック、およびその他のオーディオICやシステムのテストで必要とされることが多いコモンモード・レベルに設定できます。信号発生器とアクイジション・チャンネルは、別々の使いやすいSPIインターフェースを用いて個別に制御できます。ADMX1001は、スモール・フォーム・ファクタを有するため、テスト・システムに容易に組み込むことができ、あるいは、測定や特性評価用の作業台で簡単に使用できます。

アプリケーション

  • ハイエンド・オーディオのテスト
  • A/Dコンバータの特性評価およびテスト
  • センサーおよびトランスデューサーのテスト
  • 周波数応答とネットワーク解析
  • 自動試験装置（ATE）

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EVAL-ADMX1002

超低歪み信号発生器測定モジュール

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機能と利点

  • 超低歪み、高解像度ソース
    • 周波数範囲：DC 、50Hz～40kHz
    • 独自のデジタル・プリディストーション（DPD）アルゴリズム
    • −130dBc THD（1kHz（代表値）の時）
    • 内蔵パターン・メモリを用いた任意波形発生（AWG）
    • 差動（バランス型）出力：最大3.6VRMS
  • 複数の記憶された波形間の高速パターン・スイッチング
  • スモール・フォーム・ファクタ（60mm × 40mm）
  • 低消費電力：1W（自己消費、代表値）
  • SPIインターフェースをテストおよび測定システムに統合

製品詳細

ADMX1002は、超低歪み、正弦波、高解像度の任意波形発生器です。この高性能モジュールは、独自のデジタル・プリディストーション・アルゴリズムの採用により、信号の歪みを、高性能のDAC（D/Aコンバータ）やアンプのみが達成できるレベル以下に低減します。その差動出力は、高性能ADC（A/Dコンバータ）、オーディオ・コーデック、その他のオーディオICやシステムのテストで必要になることが多いコモンモード・レベルに合わせて設定できます。容易に導入可能なSPIインターフェースとスモール・フォーム・ファクタにより、ADMX1002は、テスト・システムへの組み込みが容易にでき、測定や特性評価用の作業台でも簡単に使用できます。

アプリケーション

  • ハイエンド・オーディオのテスト
  • A/Dコンバータの特性評価およびテスト
  • センサーおよびトランスジューサのテスト
  • 周波数応答およびネットワークの解析
  • ATE（自動試験装置）

eval board
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EVAL-28TSSOPEBZ

EVAL-28TSSOPEBZ Evaluation Board

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機能と利点

  • 28-lead TSSOP evaluation board
  • Clamp allows the main device to be easily changed
  • Gold pin connectors allow the addition of passive components
  • SMB connectors for the input/output of signals
  • Additional space on-board to allow for prototyping

製品詳細

The EVAL-28TSSOPEBZ evaluation board evaluates 28-lead TSSOP devices in the Switches and Multiplexers Portfolio that are purchased separately. A clamp is supplied with the EVAL- 28TSSOPEBZ to secure a 28-lead TSSOP device to the evaluation board without the need for soldering, making the board reusable for multiple devices.

A 28-lead TSSOP device can be clamped or soldered to the center of the evaluation board. Each pin of the device has a corresponding link from K1 to K28 that can be set to either VDD or GND. A wire screw terminal supplies VDD and GND. SMB connectors on the board allow additional external signals to be supplied to the device. In addition, there is space available at the top of the board for prototyping.

Full specifications of the device under test (DUT) are available in the corresponding product data sheet, which should be consulted in conjunction with this user guide when using the evaluation board.

EVAL-ADMX1001
完全差動入力アクイジション・チャンネルを備えた超低歪み信号発生器測定モジュール
ADMX1001 - Top View ADMX1001 - Bottom View ADMX1001 - Angle View ADMX1001FMCZ - Top View ADMX1001FMCZ - Bottom View ADMX1001FMCZ - Angle View EVAL-ADMX100X-FMCZKIT - Angle View EVAL-ADMX100X-FMCZKIT - Top View
EVAL-ADMX1002
超低歪み信号発生器測定モジュール
EVAL-ADMX100X-FMCZKIT - Angle View EVAL-ADMX100X-FMCZKIT - Top View ADMX1002 - Angle View ADMX1002 - Top View ADMX1002 - Bottom View
EVAL-28TSSOPEBZ
EVAL-28TSSOPEBZ Evaluation Board
EVAL-28TSSOPEBZ - Angle View EVAL-28TSSOPEBZ - Bottom View EVAL-28TSSOPEBZ - Top View

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