ADCLK914
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ADCLK914

HVDSクロック／データ・バッファ、超高速、SiGe、オープン・コレクタ

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ご購入＆ご注文に関するFAQ
製品モデル 3
1Ku当たりの価格 最低価格：$8.55
特長
  • 7.5GHzの動作周波数
  • 160psの伝播遅延
  • 100psの出力立上がり／立下がり時間
  • 110fsのランダム・ジッタ
  • オンチップ入力終端
  • 拡張工業用温度範囲：－40℃～＋125℃
  • 3.3V電源（VCC − VEE）

製品概要
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ADCLK914は、アナログ・デバイセズが独自に開発した相補型バイポーラ（XFCB-3）シリコン・ゲルマニウム（SiGe）プロセスで製造された超高速クロック／データ・バッファです。ADCLK914は、アナログ・デバイセズの最新の高速D/Aコンバータ（DAC）の駆動に適した高電圧差動シグナリング（HVDS）出力を特長としています。ADCLK914はシングル、差動オープン・コレクタ出力を備えています。

ADCLK914のバッファは、伝播遅延を160psとして最大7.5GHzで動作し、追加されるランダム・ジッタ（RJ）はわずか110fsです。

入力にはセンター・タップのオンチップ100Ω終端抵抗が内蔵され、LVPECL、CML、CMOS、LVTTL、またはLVDS（AC結合のみ）を受け入れます。AC結合入力のバイアシング用として、VREFピンを備えています。

HVDS出力段は、VCCに終端された50Ωの抵抗負荷に対して各サイドで1.9Vを直接駆動するように設計され、そのトータル差動出力振幅は3.8Vです。

ADCLK914は、16ピンLFCSPパッケージを採用し、－40℃～＋125℃の拡張工業用温度範囲で動作が仕様規定されています。

アプリケーション

  • クロックおよびデータ信号の再生
  • 高速コンバータ用クロック
  • ブロードバンド通信
  • セルラー・インフラ
  • 高速ライン・レシーバ
  • ATEおよび高性能計測機器
  • レベル・シフティング
  • スレッショールド検出
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ADCLK914

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更新 10/08/2008
English

ADCLK914: Ultrafast, SiGe, Open-Collector HVDS Clock/Data Buffer Data Sheet (Rev.B)

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アプリケーション・ノート

23

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更新 02/14/2015
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AN-769: Generating Multiple Clock Outputs from the AD9540 (Rev.0) redirect icon

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更新 08/26/2010
中国語
AN-769: 基于AD9540产生多时钟输出 (Rev.0) redirect icon

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更新 02/14/2015
English
AN-823: Direct Digital Synthesizers in Clocking Applications Time (Rev.0) redirect icon

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更新 10/12/2006
中国語
AN-823: 时钟应用中的直接数字频率合成器[中文版] (Rev.0) redirect icon

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更新 02/14/2015
English
AN-927: Determining if a Spur is Related to the DDS/DAC or to Some Other Source (For Example, Switching Supplies) (Rev.0) redirect icon

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更新 07/12/2007
中国語
AN-927: 确定杂散来源是DDS/DAC还是其他器件(例如开关电源)[中文版] (Rev.0) redirect icon

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更新 07/12/2007
日本語
AN-927: スプリアスとDDS / DACやその他の発生源（スイッチング電源など）との関係の判定 (Rev.0) redirect icon

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更新 02/14/2015
English
AN-939: Super-Nyquist Operation of the AD9912 Yields a High RF Output Signal (Rev.0) redirect icon

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更新 10/29/2007
中国語
AN-939: 利用AD9912的超奈奎斯特频率操作得到高RF输出信号 (Rev.0) redirect icon

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更新 11/17/2010
日本語
AN-939: 高い周波数のRF出力信号が得られるAD9912のスーパーナイキスト動作 (Rev.0) redirect icon

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更新 02/14/2015
English
AN-756: Sampled Systems and the Effects of Clock Phase Noise and Jitter (Rev.0) redirect icon

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更新 12/02/2004
中国語
AN-756: 系统采样以及时钟相位噪声和抖动的影响[中文版] (Rev.0) redirect icon

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更新 04/18/2008
日本語
AN-756: サンプル化システムに及ぼすクロック位相ノイズとジッタの影響 (Rev.0) redirect icon

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更新 12/06/2006
English
AN-873: Lock Detect on the ADF4xxx Family of PLL Synthesizers (Rev.0) redirect icon

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更新 09/25/2009
中国語
AN-873: ADF4xxx系列PLL频率合成器的锁定检测 (Rev.0) redirect icon

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更新 12/06/2006
日本語
AN-873: ADF4xxx PLLシンセサイザ・ファミリーでのロック検出 (Rev.0) redirect icon

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更新 11/29/2004
English
AN-741: Little Known Characteristics of Phase Noise (Rev.0) redirect icon

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更新 11/29/2004
中国語
AN-741: 鲜为人知的相位噪声特性 redirect icon

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更新 11/29/2004
日本語
AN-741: 位相ノイズの知られざる特性 (Rev.0) redirect icon

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更新 02/14/2015
English
AN-501: Aperture Uncertainty and ADC System Performance (Rev.A) redirect icon

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更新 11/29/2004
中国語
AN-501: 孔径不确定度与ADC系统性能[中文版] (Rev.A) redirect icon

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更新 11/29/2004
日本語
AN-501: アパーチャ不確定性とADCシステム性能 (Rev.A) redirect icon

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HTML

更新 10/30/2020
English
AN-769: Generating Multiple Clock Outputs from the AD9540 redirect icon

技術記事

3

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URL

更新 12/07/2004
English
Understand the Effects of Clock Jitter and Phase Noise on Sampled Systems redirect icon

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URL

更新 03/22/2004
English
Speedy A/Ds Demand Stable Clocks redirect icon

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URL

更新 04/27/2006
English
Design A Clock-Distribution Strategy With Confidence redirect icon

ユーザ・ガイド

1

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更新 09/24/2009
English
UG-058: Setting Up the Evaluation Board for the ADCLK914 redirect icon

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アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ･デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。


本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。

なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

ドキュメント

技術資料 14
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データシート 1

ADCLK914: Ultrafast, SiGe, Open-Collector HVDS Clock/Data Buffer Data Sheet (Rev.B)

ユーザ・ガイド 1

UG-058: Setting Up the Evaluation Board for the ADCLK914

アプリケーション・ノート 9

AN-927: スプリアスとDDS / DACやその他の発生源（スイッチング電源など）との関係の判定 (Rev.0)
AN-939: 高い周波数のRF出力信号が得られるAD9912のスーパーナイキスト動作 (Rev.0)
AN-756: サンプル化システムに及ぼすクロック位相ノイズとジッタの影響 (Rev.0)
AN-873: ADF4xxx PLLシンセサイザ・ファミリーでのロック検出 (Rev.0)
AN-741: 位相ノイズの知られざる特性 (Rev.0)
AN-501: アパーチャ不確定性とADCシステム性能 (Rev.A)
AN-769: Generating Multiple Clock Outputs from the AD9540 (Rev.0)
AN-823: Direct Digital Synthesizers in Clocking Applications Time (Rev.0)
AN-769: Generating Multiple Clock Outputs from the AD9540

技術記事 3

Understand the Effects of Clock Jitter and Phase Noise on Sampled Systems
Speedy A/Ds Demand Stable Clocks
Design A Clock-Distribution Strategy With Confidence
アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン／パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
ADCLK914BCPZ-R2 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) external-link
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  • Reliablity Data external-link
ADCLK914BCPZ-R7 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) external-link
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  • Material Declaration external-link
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ADCLK914BCPZ-WP 16-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP) external-link
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製品モデル

製品ライフサイクル

PCN

2 13, 2014

- 14_0038

Conversion of 3x3mm body Size LFCSP Package Outlines from Punch to Sawn and Transfer of Assembly Site to Amkor Philippines.

ADCLK914BCPZ-R2

製造中

ADCLK914BCPZ-R7

製造中

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Detailed Change Description

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製品ライフサイクル

PCN

2 13, 2014

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Conversion of 3x3mm body Size LFCSP Package Outlines from Punch to Sawn and Transfer of Assembly Site to Amkor Philippines.

ADCLK914BCPZ-R2

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ADCLK914BCPZ-R7

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評価用キット 1

EVAL-ADCLK914

ADCLK914 Evaluation Board

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ADCLK914 Evaluation Board

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EVAL-ADCLK914
ADCLK914 Evaluation Board
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製品の詳細

The ADCLK914 clock buffer is very fast, making it important to use adequate high bandwidth instruments to evaluate it. To that end, the evaluation board is fabricated using a high quality dielectric material between layers to maintain high signal integrity. Transmission line paths are kept as close to 50 Ω as possible.

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評価用キット1

EVAL-ADCLK914

ADCLK914 Evaluation Board

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