ADATE207

ADATE207は、ATE（自動試験装置）用のタイミング・ジェネレータ&フォーマッタです。４つの独立したチャンネルで構成されており、ATEデジタル・ピンで100MHzをベース・ベクトル・レートとするタイミングとフォーマット機能を提供します。このデバイスは、全デジタル・ピンでパターン・メモリとドライバ／コンパレータ／負荷（DCL）チップ間のインターフェースとして機能します。ADATE207は、1ピン当たり最大8ビットのパターン・データを受信し、フォーマットした出力を生成し、DUTの応答と比較することができます。

ADATE207の各チャンネルは、256の選択可能な波形を提供します。各波形は最大4つのイベントで構成され、各イベントはプログラマブルなタイミング・エッジとSTIL互換（IEEE標準1450-1999）セットで構成されています。

各タイミング・エッジ・ジェネレータは4周期スパンで1エッジを生成し、エッジ・プレースメント分解能は39.06psです。遅延発生器は100MHzのリファレンス・マスター・クロックを使用し、クロック数および補正されたCMOSアナログ・タイミング・バーニアに基づいてプログラマブル遅延を提供します。プログラマブル遅延発生器は、全エッジで共有するグローバルな8ビット入力値によってさらに遅延させることができます。

フォーマット＆比較ロジックは、2倍ピン多重化に対応しており、高速化のためにピン数を調整できます。

各チャンネルには、ミックスド・シグナル受信メモリ・アプリケーションに対応した4ビットDUT出力キャプチャがあります。障害検出ロジックとして、チャンネルごとに1個の32ビット障害アキュムレーション・レジスタがあります。

3個の8:1マルチプレクサが、外付けTMUに対応します。これにより、任意のピンのデュアル・コンパレータ出力を3つの出力（arm、start、stop信号）のいずれかに多重化できます。

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