製品概要

機能と利点

  • 4チャンネル・タイミング・フォーマッタ
  • 1チャンネル当たり256波形
  • 1波形当たり4つの独立したイベント・エッジ
  • STIL IEEE 1450-1999準拠のイベント
  • 1エッジ当たり4周期レンジ
  • 39.06psのタイミング分解能
  • 2.5nsの最小エッジ・リファイア・レート
  • 全駆動フォーマットに対応
  • 100MHzのベース・ベクトル・レート
  • 2倍/4倍高速モード
  • 2倍ピン多重化
  • 1nsの最小パルス幅

製品概要

ADATE207は、ATE(自動試験装置)用のタイミング・ジェネレータ&フォーマッタです。4つの独立したチャンネルで構成されており、ATEデジタル・ピンで100MHzをベース・ベクトル・レートとするタイミングとフォーマット機能を提供します。このデバイスは、全デジタル・ピンでパターン・メモリとドライバ/コンパレータ/負荷(DCL)チップ間のインターフェースとして機能します。ADATE207は、1ピン当たり最大8ビットのパターン・データを受信し、フォーマットした出力を生成し、DUTの応答と比較することができます。

ADATE207の各チャンネルは、256の選択可能な波形を提供します。各波形は最大4つのイベントで構成され、各イベントはプログラマブルなタイミング・エッジとSTIL互換(IEEE標準1450-1999)セットで構成されています。

各タイミング・エッジ・ジェネレータは4周期スパンで1エッジを生成し、エッジ・プレースメント分解能は39.06psです。遅延発生器は100MHzのリファレンス・マスター・クロックを使用し、クロック数および補正されたCMOSアナログ・タイミング・バーニアに基づいてプログラマブル遅延を提供します。プログラマブル遅延発生器は、全エッジで共有するグローバルな8ビット入力値によってさらに遅延させることができます。

フォーマット&比較ロジックは、2倍ピン多重化に対応しており、高速化のためにピン数を調整できます。

各チャンネルには、ミックスド・シグナル受信メモリ・アプリケーションに対応した4ビットDUT出力キャプチャがあります。障害検出ロジックとして、チャンネルごとに1個の32ビット障害アキュムレーション・レジスタがあります。

3個の8:1マルチプレクサが、外付けTMUに対応します。これにより、任意のピンのデュアル・コンパレータ出力を3つの出力(arm、start、stop信号)のいずれかに多重化できます。

アプリケーション

  • ATE(自動試験装置)
  • 高速デジタル計測器
  • パルス発生器
  • 製品ライフサイクル icon-not-recommended 新規設計には非推奨

    新規設計にはお勧めしていません。

    設計リソース

    ADI has always placed the highest emphasis on delivering products that meet the maximum levels of quality and reliability. We achieve this by incorporating quality and reliability checks in every scope of product and process design, and in the manufacturing process as well.  "Zero defects" for shipped products is always our goal.

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