AD561
新規設計には非推奨10ビットD/Aコンバータ、低価格、モノリシック
- 製品モデル
- 7
- 1Ku当たりの価格
- 最低価格:$41.76
製品の詳細
- 全機能内蔵電流出力D/Aコンバータ
- 高安定埋込みツェナー・リファレンス
- レーザ・トリミングによる高精度
(1/4LSBの最大誤差:AD561K、T) - トリミングされた抵抗による高精度出力
(電圧範囲:0~+10V、±5V)
- 高速セトリング:250ns(1/2LSBまで)
- 単調増加性保証(全動作温度範囲)
- TTL / DTLおよびCMOSコンパチブル(正論理)
- 単一チップ・モノリシック構成
AD561は、安定性の高い電圧リファレンスを単一のモノリシック・チップ上に搭載する集積回路の10ビットD/Aコンバータ(DAC)です。10個の高精度、高速電流ステアリング・スイッチ、1個の制御アンプ、電圧リファレンス、レーザ・トリミングされた薄膜シリコン-クロム抵抗ネットワークを使用して、高速で高精度のアナログ出力電流を生成します。高精度で安定した電流 / 電圧変換を容易にするために、レーザ・トリミングした出力アプリケーション抵抗も内蔵しています。これらの抵抗は0.1%の精度にトリミングされるため、多くの場合、外部トリマーを使用する必要がありません。
AD561は重要な技術をいくつか組み合わせて利用しているため、現在販売されている製品の中で最も高精度で安定性の高い10ビットDACになっています。温度係数が低く、安定性の高い薄膜ネットワークは、微細分解能のレーザ・システムによってウェハー・レベルの段階で0.01%(typ)の直線性にトリミングされます。その結果、KおよびTのバージョンで±1/4LSB(max)、そしてJおよびSのバージョンで1/2LSB(max)の精度仕様を実現します。
AD561はさらに、ローノイズで安定性の高い埋め込みツェナー・ダイオードも内蔵しています。これにより、最高レベルのディスクリート・ツェナー電圧リファレンスに匹敵する優れた長期安定性と温度サイクル特性を備えたリファレンス電圧を生成します。温度補償回路は、各デバイスの温度係数をカスタム補正できるようにレーザ・トリミングされています。その結果、15ppm/℃(typ)のフルスケール温度係数を維持します。温度係数については、KおよびTバージョンで30ppm/℃、Sバージョンで60ppm/℃、Jバージョンで80ppm/℃の最大値がそれぞれ試験によって保証されています。
AD561には、4つの性能別グレードがあります。AD561JおよびKグレードは0~+70℃の動作温度範囲で仕様規定しており、16ピンのハーメチック・シールド・セラミックDIPまたは16ピンのモールド・プラスチックDIPパッケージを用意しています。AD561SおよびTグレードは-55~+125℃の動作温度範囲で仕様規定しており、セラミック・パッケージを用意しています。
ドキュメント
データシート 1
クロスリファレンス・ガイド 1
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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AD561JD | 16-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD561JNZ | 16-Lead PDIP | ||
AD561KD | 16 ld Side-Brazed CerDip | ||
AD561KNZ | 16-Lead PDIP | ||
AD561SD | 16 ld Side-Brazed CerDip | ||
AD561SD/883B | 16 ld Side-Brazed CerDip | ||
JM38510/13301BEA | 16-Lead Side Brazed CerDIP |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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6 6, 2012 - 12_0066 Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite |
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AD561JD | 製造中 | |
AD561KD | 製造中 | |
AD561SD | 製造中 | |
AD561SD/883B | ||
JM38510/13301BEA | 製造中 | |
11 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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AD561JD | 製造中 | |
AD561KD | 製造中 | |
AD561SD | 製造中 | |
AD561SD/883B | ||
JM38510/13301BEA | 製造中 | |
11 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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AD561JD | 製造中 | |
AD561JNZ | 製造中 | |
AD561KD | 製造中 | |
AD561KNZ | 製造中 | |
AD561SD | 製造中 | |
AD561SD/883B | ||
JM38510/13301BEA | 製造中 | |
5 13, 2009 - 09_0086 Wilmington Bipolar Process Change From 100mm to 150mm Wafer Diameter for AD561 |
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AD561JD | 製造中 | |
AD561JNZ | 製造中 | |
AD561KD | 製造中 | |
AD561KNZ | 製造中 | |
AD561SD | 製造中 | |
AD561SD/883B | ||
JM38510/13301BEA | 製造中 | |
3 29, 2021 - 21_0033 Assembly Site Transfer for 14/16L 300_MIL PDIP to Cirtek |
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AD561JNZ | 製造中 | |
8 19, 2009 - 07_0024 Package Material Changes for SOT23, MiniSO, MQFP, PDIP, PLCC, SOIC (narrow and wide body), SSOP, TSSOP and TSSOP exposed pad |
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AD561JNZ | 製造中 | |
AD561KNZ | 製造中 | |
4 9, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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AD561SD/883B | ||
JM38510/13301BEA | 製造中 | |
2 1, 2010 - 09_0196 Change In Location of Q Compliance Indicator Location for JAN/38510 Product |
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JM38510/13301BEA | 製造中 |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。