製品概要
製品概要
AD53509 は、ATE VLSI やメモリ・テスターのドライバ、コンパレータ、およびアクティブ負荷のピン・エレクトロニクス機能を実行するシングル・チップ・デバイスです。さらに、アクティブ負荷用のショットキー･ダイオード・ブリッジおよび VCOM バッファも内蔵しています。
このドライバは、データ・ハイ・モード、データ・ロー・モード、終端モードの 3 つのアクティブ状態に加え、インヒビット状態を備えた独自の設計を採用しています。出力電圧範囲は -2 V ～ +7 V で、様々なテスト・デバイスに対応します。出力リークは全信号範囲で 250 nA（代表値）未満です。
入力範囲がドライバの出力範囲に等しいデュアル・コンパレータは、内蔵ラッチと ECL 互換出力を備えています。出力は −2 V に終端された 50 Ω の信号ラインを駆動できます。信号のトラッキング能力は 5 V/ns を上回ります。
アクティブ負荷は最大 40 mA の負荷電流に設定でき、設定範囲全体の直線性誤差は 10 μA 未満です。IOH、IOL、およびバッファ付き VCOM は個別に調整可能です。内蔵ショットキー･ダイオードは高速スイッチングと低容量を実現します。
また、DCL の表面温度を示すため、温度センサーもチップに内蔵されています。この情報は、θJC および θJA の測定に、または適切な冷却がされていないことを示すアラーム・フラグに使用することができます。センサーからの出力は絶対温度に比例する電流シンクです。ゲインは公称値1.0 μA/K に調整されます。例えば、出力電流は 10 V から THERM ピンに接続された 10 kΩ 抵抗を使って検出することができます。この場合、抵抗両端の電圧降下は次式のようになります。
10 K × 1 μA/K = 10 mV/K = 2.98 V（室温）
アプリケーション- 自動試験装置（ATE）
- 半導体テスト・システム
- ボード・テスト・システム
- 計測器および特性評価用装置
製品カテゴリ
製品ライフサイクル
製造中
この製品ファミリーの1つ以上の型番が生産／供給中です。新規の設計に適していますが、より新しい代替製品を提供している場合があります。
参考資料
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ATE（自動試験装置）ソリューション1/1/2000
設計リソース
アナログ・デバイセズでは、最高レベルの品質と信頼性を備えた製品を提供することに最大の力を常に注いでいます。これを実現するため、製品およびプロセスの設計のあらゆる観点で品質と信頼性のチェックを行っています。そして、それは、製造工程においても同様です。アナログ・デバイセズは常に、出荷製品の「ゼロ・ディフェクト」を目指しています。詳細についてはアナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム/認定証をご覧ください。
| 製品番号 | 材料宣誓書（MD） | 信頼性データ | ピン/パッケージ図 | CADシンボル、フットプリント & 3Dモデル |
|---|---|---|---|---|
| AD53509JSWZ | 材料宣誓書（MD） | 信頼性データ | 52-Lead LQFP_EP (14mm x 14mm x 1.4mm) | |
| ウェハ・ファブリケーション・データ |
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