製品概要

機能と利点

製品概要

AD53509 は、ATE VLSI やメモリ・テスターのドライバ、コンパレータ、およびアクティブ負荷のピン・エレクトロニクス機能を実行するシングル・チップ・デバイスです。さらに、アクティブ負荷用のショットキー・ダイオード・ブリッジおよび VCOM バッファも内蔵しています。 

このドライバは、データ・ハイ・モード、データ・ロー・モード、終端モードの 3 つのアクティブ状態に加え、インヒビット状態を備えた独自の設計を採用しています。出力電圧範囲は -2 V ~ +7 V で、様々なテスト・デバイスに対応します。出力リークは全信号範囲で 250 nA(代表値)未満です。 

入力範囲がドライバの出力範囲に等しいデュアル・コンパレータは、内蔵ラッチと ECL 互換出力を備えています。出力は −2 V に終端された 50 Ω の信号ラインを駆動できます。信号のトラッキング能力は 5 V/ns を上回ります。 

アクティブ負荷は最大 40 mA の負荷電流に設定でき、設定範囲全体の直線性誤差は 10 μA 未満です。IOH、IOL、およびバッファ付き VCOM は個別に調整可能です。内蔵ショットキー・ダイオードは高速スイッチングと低容量を実現します。 

また、DCL の表面温度を示すため、温度センサーもチップに内蔵されています。この情報は、θJC および θJA の測定に、または適切な冷却がされていないことを示すアラーム・フラグに使用することができます。センサーからの出力は絶対温度に比例する電流シンクです。ゲインは公称値1.0 μA/K に調整されます。例えば、出力電流は 10 V から THERM ピンに接続された 10 kΩ 抵抗を使って検出することができます。この場合、抵抗両端の電圧降下は次式のようになります。 

 10 K × 1 μA/K = 10 mV/K = 2.98 V(室温) 

アプリケーション
  • 自動試験装置(ATE) 
  • 半導体テスト・システム 
  • ボード・テスト・システム 
  • 計測器および特性評価用装置

製品カテゴリ

製品ライフサイクル icon-recommended 製造中

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設計リソース

ADI has always placed the highest emphasis on delivering products that meet the maximum levels of quality and reliability. We achieve this by incorporating quality and reliability checks in every scope of product and process design, and in the manufacturing process as well.  "Zero defects" for shipped products is always our goal.

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