AD53509G

AD53509 は、ATE VLSI やメモリ・テスターのドライバ、コンパレータ、およびアクティブ負荷のピン・エレクトロニクス機能を実行するシングル・チップ・デバイスです。さらに、アクティブ負荷用のショットキー･ダイオード・ブリッジおよび VCOM バッファも内蔵しています。 

このドライバは、データ・ハイ・モード、データ・ロー・モード、終端モードの 3 つのアクティブ状態に加え、インヒビット状態を備えた独自の設計を採用しています。出力電圧範囲は -2 V ～ +7 V で、様々なテスト・デバイスに対応します。出力リークは全信号範囲で 250 nA（代表値）未満です。 

入力範囲がドライバの出力範囲に等しいデュアル・コンパレータは、内蔵ラッチと ECL 互換出力を備えています。出力は −2 V に終端された 50 Ω の信号ラインを駆動できます。信号のトラッキング能力は 5 V/ns を上回ります。 

アクティブ負荷は最大 40 mA の負荷電流に設定でき、設定範囲全体の直線性誤差は 10 μA 未満です。I_OH、I_OL、およびバッファ付き VCOM は個別に調整可能です。内蔵ショットキー･ダイオードは高速スイッチングと低容量を実現します。 

また、DCL の表面温度を示すため、温度センサーもチップに内蔵されています。この情報は、θ_JC および θ_JA の測定に、または適切な冷却がされていないことを示すアラーム・フラグに使用することができます。センサーからの出力は絶対温度に比例する電流シンクです。ゲインは公称値1.0 μA/K に調整されます。例えば、出力電流は 10 V から THERM ピンに接続された 10 kΩ 抵抗を使って検出することができます。この場合、抵抗両端の電圧降下は次式のようになります。 

 10 K × 1 μA/K = 10 mV/K = 2.98 V（室温） 

• 自動試験装置（ATE） 
• 半導体テスト・システム 
• ボード・テスト・システム 
• 計測器および特性評価用装置