-
2772: Y2K兼容、非易失时钟RAM Data Sheet (Rev. 6)1/1/1900PDF421K
概览
优势和特点
- 集成的NV SRAM、实时时钟(RTC)、晶体、电源失效控制电路和锂电池
- 访问时钟寄存器方式与静态RAM完全相同,这些寄存器位于RAM中最高的8个地址
- 世纪字节寄存器;Y2K兼容
- 完全的非易失性,可在缺少电源的条件下工作10年以上
- BCD编码的世纪、年、月、日、星期、小时、分和秒数据,可自动进行闰年补偿至2100年
- 电池电压指示标志
- 电源失效写保护,允许±10%的VCC电源容差
- 锂电池处于开路的保鲜模式,直至首次电源加电
- 仅对于DIP模块:
- 标准的JEDEC字节宽度512k x 8静态RAM引脚排列
- 仅对于PowerCap模板:
- 可表贴的封装直接与包含电池和晶体的PowerCap连接
- 可替换的电池(PowerCap)
- 上电复位输出
- 引脚兼容于其他密度的DS174xP时间保持RAM
- 可提供工作在工业级温度范围(-40°C至+85°C)的芯片
产品详情
DS1747是功能完备、2000年兼容(Y2KC)的实时时钟/日历(RTC)和512k x 8非易失性SRAM。用户可通过如图1所示的单字节宽度的接口对DS1747内部的所有寄存器进行访问。RTC信息和控制位占用RAM中最高的8个地址。RTC寄存器包含世纪、年、月、日、星期、小时、分和秒数据,采用24小时BCD格式。器件可自动对每个月份及闰年进行日期校正。RTC时钟寄存器采用双缓冲,可避免在时钟更新周期内访问不正确的数据。双缓冲系统还可以防止访问时间寄存器时导致倒数计时无法减少而引起的时间丢失。DS1747还包含电源失效电路,用于当VCC电源超出容差时,禁止选通器件。由于低VCC引起不可预测的系统操作,该特性可以避免这种情况下的数据丢失,从而避免错误的访问和更新。
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计,但也可能有更新的替代产品。
参考资料
-
DS1747 Reliability Data1/12/2023PDF16K
工具及仿真模型
IBIS模型
设计资源
ADI始终把满足您可靠性水平的产品放在首要位置。我们通过在所有产品、工艺设计和制造过程中引入高质量和可靠性检查实践这一承诺。发运的产品实现“零缺陷”始终是我们的目标。
样片申请及购买
订购常见问题解答
有关在线订单、付款选项等问题的答案,请参阅我们的订购常见问题解答。
立即购买报价
(**)显示的立即购买报价和报价范围基于少量订单。
报价单
(*)所列的千片报价单仅供预算参考,指美元报价(规定订量的单价,美国离岸价),如有修改,恕不另行通知。由于地区关税、商业税、汇率及手续费原因,国际报价可能不同。对于指定订量报价或交货报价,请联系当地的ADI授权代理商。对于评估板和套件的报价是指单片价格。
采样
选择上方“样片”按钮将重定向至第三方ADI样片网站。登录后,所选部件将转移到您在此网站上的购物车。如果您之前从未使用过此网站,请创建一个新帐户。有关此样片网站的任何问题,请联系SampleSupport@analog.com。