概览
优势和特点
- 双通道256位分辨率
- 1 kΩ、10 kΩ、50 kΩ、100 kΩ
- 非易失性存储器存储带写入保护的游标设置
- 在300 µs（典型值）内上电刷新EEMEM设置
- EEMEM重写时间 = 540 µs（典型值）
- 电阻容差存储在非易失性存储器中
- 在EEMEM中存储12个额外的字节，用于用户定义信息
- I2C 兼容串行接口
- 对RDAC和EEMEM寄存器进行直接读/写访问
- 预定义线性递增/递减命令
- 预定义±6 dB步进变化命令
- 同步或异步双通道更新
- 游标设置回读功能
- 4 MHz带宽——1 kΩ版本
- 单电源供电：2.7 V至5.5 V
- 双电源供电：±2.25 V至±2.75 V
- 2个从机地址解码位支持4个器件操作
- 100年典型数据保留期，TA = 55°C
- 工作温度：-40°C至+105°C
产品详情
AD52521是一款具有256位的双通道、I2C、非易失性存储器、数控电位计。可实现与机械电位计、调整器和可变电阻相同的电子调整功能。器件的多功能编程能力支持多种工作模式，包括对RDAC和EEMEM寄存器进行读/写访问、电阻递增/递减、±6 dB电阻量程变化和游标设置回读，同时提供额外的EEMEM，用于存储用户定义信息，如其他元件的存储器数据、查找表或系统识别信息。
AD5251/AD5252允许主I2C控制器在RDAC寄存器中写入任何64/256步游标设置并将其存储在EEMEM中。存储设置后，在系统上电时它们自动恢复到RDAC寄存器；也可动态恢复这些设置。
AD5251/AD5252在同步或异步通道更新模式下提供额外的递增、递减和±6 dB步进变化。递增和递减功能支持逐步线性调整，±6 dB步进变化相当于RDAC游标设置加倍或减半。这些功能适用于陡坡斜率、非线性调整，如白色LED亮度和音量控制。
AD5251/AD5252具有已取得专利的电阻容差存储功能，允许用户访问EEMEM并获得用于精密应用的RDAC的端到端绝对电阻值。
AD5251/AD5252采用TSSOP-14封装。AD5251仅具有50 kΩ电阻选项，而AD5252提供1 kΩ、10 kΩ、50 kΩ和100 kΩ选项。所有器件的保证工作温度范围均为−40°C至+105°C扩展工业温度范围。
应用
- 机械电位计的替代产品
- 通用DAC替换产品
- LCD面板VCOM调整
- 白色LED亮度调整
- RF基站功率放大器偏置控制
- 可编程增益和失调控制
- 可编程电压至电流转换
- 可编程电源
- 传感器校准
1受美国专利第7,688,240号保护。
产品生命周期
量产
该产品系列中至少有一个型号已量产并可供采购。该产品适合用于新设计，但也可能有更新的替代产品。
评估套件 (1)
参考资料
-
AN-1291: 数字电位计：常见问题解答8/18/2020
-
AN-686: 实现I²C®复位 (Rev. 0)6/23/2010
-
AN-729: AD5254四通道256位I2C兼容型非易失性存储器数字电位计评估套件 (Rev. 0)12/12/2005
-
为您的应用选择合适的数字电位计3/25/2011
-
全面理解和高效应用数字电位计4/10/2017
-
Digital Potentiometers - Where and How to Use10/3/2014
工具及仿真模型
IBIS模型
设计资源
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| Part Number | Material Declaration | Reliability Data | Pin/Package Drawing | CAD Symbols, Footprints & 3D Models |
|---|---|---|---|---|
| AD5254BRUZ1 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ1-RL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ10 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ10-RL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ100 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ100-RL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ50 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254BRUZ50-RL7 | 材料声明 | 质量和可靠性 | 20-Lead TSSOP | |
| AD5254C1-R5 | 材料声明 | 质量和可靠性 | CHIPS OR DIE | |
| Wafer Fabrication Data |
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