示波器和数字化仪决方案
数字示波器和数字化仪是广泛使用的故障排除、测试和开发仪器，可用于分析时域信号特性。随着现代设备比以往任何时候都具有更多的功能和分析选项，ADI的高阻抗、FET输入放大器、可变增益放大器、ADC驱动器、ADC、时钟分配、高速比较器等产品系列可用于触发器电路、电源树解决方案以及嵌入式处理器，以实现出色的数字示波器设计。
价值和优势
我们的精密高速ADC、高阻抗输入放大器、驱动放大器、时钟分配、高速比较器和电源解决方案可实现各种示波器设计，无论是便携式示波器还是注重性能的台式示波器，均可支持。
广泛的技术产品组合涵盖高精度、高速、电源等特性，可满足不同的时域要求
高度集成的uModule有助于节省功耗和空间
通过高采样速率的ADC实现更宽的带宽
解决方案资源
互动式信号链
评估版
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设计工具
培训与支持
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文件和下载
AN-756: 系统采样以及时钟相位噪声和抖动的影响[中文版]
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MT-060：在电压反馈（VFB）和电流反馈（CFB）运算放大器之间选择
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MT-086: 锁相环(PLL)基本原理
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MT-076：差分驱动器分析
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MT-074: 精密ADC用差分驱动器
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MT-075: 高速ADC用差分驱动器概述
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MT-008: 将振荡器相位噪声转换为时间抖动
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MT-003:了解SINAD、ENOB、SNR、THD、 THD + N、SFDR，不在噪底中迷失
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Selected Reference Designs: Test and Measurement Solutions
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精密产品与信号链解决方案：选型指南2019
13.38 M
MT-101：去耦技术
954 kB
Table of Contents
2296 kB
Section 1: High Speed Data Conversion Overview
Section 2: Optimizing Data Converter Interfaces
1677 kB
Section 3: DAC, DDS, PLL's, and Clock Distribution
7676 kB
Section 4: PC Board Layout and Design Tools
3570 kB
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