自动化测试设备

ADATE318是一款完整的单芯片ATE解决方案，用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)、四象限单引脚(Per-pin)参数测量单元(PPMU)的引脚电子功能。它具有单位芯片VHH驱动功能，支持闪存测试应用，集成的16位DAC和片内校准引擎可提供器件工作所需的所有直流电平。

驱动器提供三种有源状态：数据高电平、数据低电平和端接模式，以及一种高阻抗抑制状态。抑制状态与集成动态箝位电路一同使用，有利于实现高速有源端接。输出电压范围为−1.5 V至+6.5 V，支持各种自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

ADATE318可以作为两个单端驱动/接收通道或一个差分驱动/接收通道使用。每个通道都具有一个高速窗口比较器和一个可编程阈值差分比较器，适合差分ATE应用。每个通道还提供一个四象限PPMU。

用于DCL和PPMU功能的所有直流电平都由24个片内16位DAC产生。为了支持精确的电平编程，ADATE318集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可以存储在片内，写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

ADATE318利用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。它还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路，用于监控和报告器件温度，以及工作期间可能发生的任何输出引脚或PPMU电压故障。

应用

• 自动测试设备
• 半导体测试系统
• 电路板测试系统
• 仪器仪表和表征设备

ADATE320是一款完整的单芯片ATE解决方案，用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)、四象限单引脚参数测量单元(PPMU)的引脚电子功能。集成片内校准寄存器的专用16位数模转换器(DAC)可提供器件工作所需的所有直流电平。

这款驱动器提供三种有源模式：高、低和端接模式以及高阻抗抑制状态。当驱动器未对此线路进行有源端接时，抑制状态以及集成动态箝位有利于传输线路反射的显著衰减。开路驱动能力为−1.5 V至+4.5 V，支持各种标准自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

ADATE320可用作双通道单端引脚电子通道或单差分通道。除了每通道高速窗口比较器之外，ADATE320提供适合差分ATE应用的可编程阈值差分比较器。

用于DCL和PPMU功能的所有直流电平都由专用片内16位DAC产生。为了支持精确的电平编程，ADATE320集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可以存储在片内，写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

ADATE320使用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。它还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路，用于监控和报告器件温度，以及工作期间可能发生的任何输出引脚或瞬变PPMU电压故障。

ADATE320提供两种版本：标准版本具有输出摆幅为250 mV的高速比较器输出。ADATE320-1具有400 mV输出摆幅。更多信息请参考“订购指南”。

应用

• 自动测试设备(ATE)
• 半导体/电路板测试系统
• 仪器仪表和表征设备

AD5560是一款高性能、高集成度器件电源，提供可编程的驱动电压和测量范围。该产品包括所需的DAC电平，用以设置驱动放大器的可编程输入，此外还包括箝位和比较器电路。片内集成用于DAC功能的失调和增益校正功能。它提供多种可编程测量电流范围，包括五种内部固定范围和两种分别提供最高1.2 A和500 mA电流的外部可选范围（EXTFORCE1和EXTFORCE2）。高电流电平时可实现的电压范围受裕量和最大功耗限制。通过并联或联合多个DPS器件，可以实现1.2 A以上的电流范围或高电流与高电压组合。发生过流、过温状况时，它会提供开漏报警输出，或者在SENSE、DUTGND线上提供开尔文报警。

该DPS的功能通过一个与SPI™、QSPI™、MICROWIRE™、DSP接口标准兼容的简单三线式串行接口控制，接口时钟速度最高可达50 MHz。

应用

• 自动测试设备(ATE)
  • 器件电源

ADGM1004是一款宽带、单刀四掷(SP4T)开关，采用ADI公司的微型机电系统(MEMS)开关技术制造而成。利用该技术可实现小型、宽RF带宽、高线性、低插入损耗开关，其工作频率范围为0 Hz/dc至13 GHz，是满足各种RF和精密设备开关需求的理想解决方案。

集成驱动器芯片产生高压，通过静电驱动可由并行接口和串行外设接口(SPI)控制的开关。所有四个开关都可单独进行控制。

该器件采用24引脚、5 mm × 4 mm × 1.45 mm、引脚架构芯片级封装(LFCSP)。

为确保ADGM1004的更佳运行，请完全遵循“关键运行要求”部分。

ADGM1004的导通电阻(RON)性能受到器件间差异、通道间差异、周期驱动、建立时间后开启、偏置电压和温度变化的影响。

请注意，在整篇数据手册中，多功能引脚（如IN1/SDI）由整个引脚名称或引脚的单个功能表示，例如SDI即表示仅与此功能相关。

应用

• 继电器替代方案
• 自动测试设备(ATE)：RF、数字和混合信号
• 负载和探针板：RF、数字和混合信号
• RF测试仪表
• 可重复配置型滤波器和衰减器
• 高性能RF开关

ADGM1304 是一款宽带单刀四掷 (SP4T) 开关，使用 ADI 公司的微机电系统 (MEMS) 开关技术制造。该技术可实现小尺寸、宽 RF 带宽、高度线性、低插入损耗、工作频率范围为 0 Hz/直流至 14 GHz 的开关，从而使 ADGM1304 成为可满足各种 RF 和精密设备开关需求的理想解决方案。

集成驱动器芯片会产生高电压，从而以静电方式驱动可以由并行接口和串行外设接口 (SPI) 控制的开关。所有四个开关均可独立控制。

该器件采用 24 引脚、5 mm × 4 mm × 0.95 mm、引线框芯片尺寸级封装 (LFCSP)。

为确保 ADGM1304 以较佳方式工作，必须严格遵守“关键运行要求”部分的说明。

ADGM1304 的导通电阻 (RON) 性能受器件间差异、通道间差异、周期驱动、导通后建立时间、偏置电压和温度变化的影响。

应用

• 继电器替代方案
• 自动测试设备：RF/高速数字和混合信号
• 负载和探针板：RF/高速数字和混合信号
• RF 测试仪器仪表
• 可重新配置滤波器和衰减器
• 高性能 RF 开关

图1所示的电路使用RF MEMS开关在两台表贴RF衰减器和两条直通路径之间路由RF信号。

衰减RF信号通常在RF测试仪器仪表和接收器前端完成，以保护下游电路并扩大动态范围。使用分立式衰减器和开关可较大程度提升设计灵活性，增加路由选项。在图1电路图中，两个ADGM1304单刀四掷(SP4T) RF MEMS开关按背靠背方式配置，在输入和输出端之间产生了四条独立可切换路径。前两条路径是直通传输线，第三条包含一个6 dB衰减器，第四条包含一个9 dB衰减器。实现此应用的关键在于：利用超低的插入损耗和高线性度开关，在不同路径选项之间进行多路复用。

开关必须对RF信号尽可能没有影响，且应尽量避免增加插入损耗和失真。ADGM1304开关在2.5 GHz时提供同类优质的插入损耗0.26 dB，以及69 dBm的典型三阶交调截点(IP3)性能。除了插入损耗和失真之外，MEMS开关为此应用带来的另一个关键优势是其能够传输真正的直流信号。这意味着，在典型RF仪器仪表衰减器开关应用中开关不会限制低频工作，使得仪器仪表能够在必要时传递直流偏置电压。

ADGM1304器件的物理尺寸为4 mm × 5 mm × 0.95 mm，与传统的机电继电器开关解决方案相比，它大幅减小了印刷电路板(PCB)的面积。此外，ADGM1304开关的启动速度为30 μs，与机电继电器相比有显著提升，后者是毫秒量级，并在测量系统中引入显著延时。ADGM1304器件的启动生命周期可保证10亿个周期，与机电继电器相比，这是一大改进，此外，它还大幅提升了系统的整体可靠性。

ADI公司的ADA4945-1CP-EBZ评估板允许用户评估ADA4945-1全差分放大器的性能。ADA4945-1CP-EBZ评估板可配置为接受单端或差分输入信号。

ADA4945-1CP-EBZ评估板利用多个2引脚和3引脚接头控制ADA4945-1的各种特性。施加正确的跳线以便设置ADA4945-1高低输出箝位电平，设置ADA4945-1输出共模电压，选择ADA4945-1的高功率或低功率模式并设置ADA4945-1数字接地电平。

电源层和接地层经优化可确保低噪声和高速运算。器件放置和电源旁路可以较大程度地提高电路的灵活性和性能。ADA4945-1CP-EBZ评估板支持0402表面贴装技术(SMT)器件、0805旁路电容和2.54 mm接头。

输入和输出信号通过50 Ω侧边引出超小A型(SMA)连接器转至/自此电路板。

ADA4945-1数据手册提供ADA4945-1的完整规格。使用ADA4945-1CP-EBZ评估板时，应同时参阅数据手册和本用户指南。