ADE7761B
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よく聞かれる質問(FAQ)
製品モデル
2
1Ku当たりの価格
特長
- 高精度、IEC 62053-21規格に適合する有効電力量計測用IC
- 1000~1のダイナミック・レンジで0.1%未満の誤差
- F1とF2の周波数出力上に有効電力を供給
- キャリブレーション用に高周波数のCF出力が瞬時有効電力を供給
- 相電流とニュートラル電流の継続的な監視によって、2線式配電システムの障害を検出
- シャントおよび電流トランス・センサーに最適な電流チャンネル入力レベル
- 障害状態でも、2つの電流(相またはニュートラル)の大きいほうで課金を実施
- 電圧入力と電流入力の継続的な監視によって中性喪失を検出
- 中性喪失検出時に電流入力のいずれか(相またはニュートラル)を使用して課金を実施
- 2つのロジック出力(FAULTとREVP)を使用して、誤配線、障害、中性喪失状態の可能性を表示
- 電気機械式カウンタと2相ステッパ・モータを直接駆動(F1とF2)
- 環境条件や使用期間中に大きな変化があっても高精度を実現する独自のADCとDSP
製品概要
ADE7761Bは、2線式配電システムでの使用を目的とした高精度の耐障害性電気エネルギー計測用ICです。デバイスの仕様は、IEC 62053-21規格の精度条件を上回ります。ADE7761Bで使用するアナログ回路は、ADCとリファレンス回路のみです。他のすべての信号処理(乗算やフィルタ処理など)は、デジタル領域で行われます。この方法により、極端な環境条件や長期に及ぶ使用においても優れた安定性と精度を維持します。ADE7761Bは、相電流とニュートラル電流の両方を常時監視することによってADE7751と同様の障害検出を実行します。電流が6.25%以上異なると、障害が表示されます。
ADE7761Bは、入力電圧を常時監視することによって中性喪失を検出します。中性喪失状態(電圧入力が存在しない状態)が検出されると、ADE7761Bは有効な電流信号に基づいて課金を継続します(「中性喪失検出モード」を参照)。FAULTピンがハイレベルになると、中性喪失状態を意味します。ADE7761Bは、F1とF2の低周波数出力に対し平均の有効電力情報を供給します。CFロジック出力が瞬時に有効電力情報を提供します。
ADE7761Bは、VDD電源ピンに電源モニタ回路を内蔵しています。内蔵位相マッチング回路により、電圧チャンネルと電流チャンネルが確実にマッチングします。ADE7761Bの内部無負荷スレッショールドによって、無負荷時にクリープ現象が生じません。
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製品モデル
2
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ADE7761B
資料
9
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データシート
1
アプリケーション・ノート
4
更新 03/12/2004
English
更新 03/12/2004
中国語
更新 03/27/2008
English
更新 10/03/2002
English
技術記事
3
URL
更新 03/05/2010
English
更新 09/30/2003
English
更新 06/01/2004
English
よく聞かれる質問
1
HTML
更新 12/07/2014
日本語
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ドキュメント
技術資料
8
データシート 1
アプリケーション・ノート 3
技術記事 3
よく聞かれる質問 1
設計リソース 2
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
---|---|---|---|
ADE7761BARSZ | 20-Lead SSOP |
|
|
ADE7761BARSZ-RL | 20-Lead SSOP |
|
- ADE7761BARSZ
- ピン/パッケージ図
- 20-Lead SSOP
- 資料
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
- Ultra Librarian
- SamacSys
- ADE7761BARSZ-RL
- ピン/パッケージ図
- 20-Lead SSOP
- 資料
- HTML Material Declaration
- HTML Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
- Ultra Librarian
- SamacSys
PCN/PDN情報
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
8 25, 2010
- 10_0065
Halogen Free Material Change for SSOP Products at Carsem
ADE7761BARSZ
1 13, 2010
- 07_0090
Certification of STATSChipPAC China (SCC) as an additional Test facility for ADI
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製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
8 25, 2010
- 10_0065
Halogen Free Material Change for SSOP Products at Carsem
1 13, 2010
- 07_0090
Certification of STATSChipPAC China (SCC) as an additional Test facility for ADI